二次離子質譜儀 ：
這是用來檢測材料的一種儀器，即是利用離子束把待分析的材料從表面濺射出來，然後再檢測出離子組分並進行質量分析。它是對微粒進行同位素分析的有力工具，但它不能直接分辨同量異位數和確認元素，也難以高效率地在環境樣品中尋找特定成分的微粒。
二次離子質譜：
Secondary-ion-mass spectroscope （SIMS），是利用質譜法分析初級離子入射靶面後，濺射產生的二次離子而獲取材料表面信息的一種方法。二次離子質譜可以分析包括氫在內的全部元素，並能給出同位素的信息、分析化合物組分和分子結構。二次離子質譜具有很高的靈敏度，可達到ppm甚至ppb的量級，還可以進行微區成分成像和深度剖面分析。化學通用分析儀器
| 化學通用分析儀器主要用於中間體、染料、醫藥、生化、環保、石油化工、食品、農藥等各類在紫外-可見光區有一定吸收的精細化工產品的分離分析。 |
