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能譜儀
能譜儀(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用來對材料微區成分元素種類與含量分析,配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡...
性能指標 產品介紹 測器原理 使用範圍 主要特點 -
X射線螢光光譜法
X射線螢光光譜法是照射原子核的X射線能量與原子核的內層電子的能量在同一數量級時,核的內層電子共振吸收射線的輻射能量後發生躍遷,而在內層電子軌道上留下一個...
分析 套用 優點 展望 -
X射線衍射分析
X射線衍射分析(X-ray diffraction,簡稱XRD),是利用晶體形成的X射線衍射,對物質進行內部原子在空間分布狀況的結構分析方法。將具有一定...
原理 衍射方法 樣品要求 套用 發展 -
X射線
X射線是由於原子中的電子在能量相差懸殊的兩個能級之間的躍遷而產生的粒子流,是波長介於紫外線和γ射線 之間的電磁波。其波長很短約介於0.01~100埃之間...
發現歷史 原理 產生 分類 特性 -
《半導體探測器X射線能譜儀通則》
《半導體探測器X射線能譜儀通則》本標準由全國微束分析標準化技術委員會提出,是中國標準出版社發行。
簡介 -
X射線螢光光譜儀
X射線螢光光譜儀具有重現性好,測量速度快,靈敏度高的特點。能分析F(9)~U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片,液體等,分析對象適用於煉...
簡介 X射線螢光光譜儀技術原理. 主要用途 儀器類別 指標信息 -
X射線螢光光譜分析法
測量以及數據處理等部分組成。X射線光譜儀與X射線能譜儀兩類分析儀器有其...實驗室用的X射線螢光光譜儀和能譜儀、小型攜帶型X射線螢光分析儀及工業上的專用...一般使用攜帶型X射線螢光分析儀,即可達到目的。如在室內使用X射線能譜儀...
X射線螢光光譜分析法 正文 配圖 相關連線 -
x射線光電子能譜
X射線光電子能譜技術(XPS)是電子材料與元器件顯微分析中的一種先進分析技術,而且是和俄歇電子能譜技術(AES)常常配合使用的分析技術。由於它可以比俄歇...
定義 發展簡史 原理 特點 系統組件 -
X射線譜儀
X射線譜儀由X射線譜儀探測器、太陽監測器和電控箱三部分構成,主探測器採用Si-PIN組成半導體探測器陣列,在1keV~60keV能區,實現對全月面成像觀...
簡介 特點 組成 性能 -
X射線螢光光譜分析
方法的不同,分為X射線光譜法(波長色散)和X射線能譜法(能量色散...(波長色散)和X射線螢光能譜儀(能量色散)。 X射線螢光光譜儀主要由...相同。 優缺點 X射線螢光光譜儀和X射線螢光能譜儀各有優缺點。前者...
原理 分類 優缺點