X射線自發現至今有百年歷史，經過許多X射線工作的努力，對其理論已經研究的相當透徹並獲得廣泛引用。X射線是波長很短的電磁波，在波譜範圍表中X射線的波長範圍恰好和物質機構單元的尺寸位於同一量級，因此X射線做為物質結構分析和監測手段得到十分廣泛的套用。1912年德國物理學家勞厄發現X射線穿過物質的衍射現象，1913年英國物理學家Bragg父子根據晶面反射原理推出著名的bragg定律，從而奠定了X射線衍射的理論基礎。通過測定衍射角位置（峰位）可以進行化合物的定性分析，測定譜線的積分強度（峰強度）可以進行定量分析，而測定譜線強度隨角度的變化關係可進行晶粒的大小和形狀的檢測。
目前X射線衍射分析的套用幾乎遍及物理、化學、生物、醫藥、金屬、地質、礦物、陶瓷、半導體、材料科學以及高分子科學等各個學科領域，成為各學科的科學工作者獲得物質組成和微觀結構信息的手段。
0320 螢光光譜儀
當某些物質到被某種能量較高的輻射照射時，該物質即發射出各種頻率極不同強度的光，停止照射這種光隨之消失，此種光線陳為螢光。
X射線照射物質時，也可以產生次級X射線，即螢光X射線。螢光X射線的波長只取決於物質中原子的種類。因此該波長的螢光X射線的波長就可以確定物質的元素組分，這就是螢光X射線定性分析的基礎。根據產生的螢光X射線的強度，就能定量地求出各元素含量，就是是螢光X射線定量分析的基礎。X射線螢光光譜儀，根據分光原理，可以分為波長色散型和能量色散型兩種基本類型。波長色散型X射線螢光光譜儀由X光管激發源、試樣室、晶體分光器、探測器和計數系統幾個部分組成。而能量色散型X射線螢光光譜儀則用解析度較高的半導體探測器和多道脈沖分析器代替晶體分光器和一般探測器。X射線螢光分析廣泛套用於鋼鐵、合金、礦石、玻璃、陶瓷、塑膠、石油等材料的元素分析。固體、粉末和液體樣均可用此法分析，成為現代儀器分析的主要手段之一。
0330 X射線能譜儀
當已知能量的X射線照射氣體或晶體固體時，由於光電效應，電子被打出外部；光電子能譜法，就是分析這種電子的動能，即光電子能譜而求出分子或晶體內電子結合能而鑑定物質元素的方法。原子內殼層的能級因化學結合狀態（價電子的變化）而變，這種變化可以造成X射線光電子電子能譜峰形狀和位置的變化，人們稱之為化學位移或化學校應。通過分析譜峰的化學位移可以得知該元素的價鍵信息。
X射線光電子能譜可以檢測元素周期表中除H及HE的所有元素，其信息深度為零點幾道及納米，檢測靈敏度為千分之幾原子層。這種儀器在能源、催化、大規模積體電路、超導簿膜研製、材料的腐蝕與防護、斷口分析、失效分析、表面電子發射、材料表面改性等領域得到廣泛套用。
化學通用分析儀器
| 化學通用分析儀器主要用於中間體、染料、醫藥、生化、環保、石油化工、食品、農藥等各類在紫外-可見光區有一定吸收的精細化工產品的分離分析。 |
