概述
偏光顯微鏡是用於研究所謂透明與不透明各向異性材料的一種顯微鏡。偏光顯微鏡（polarizingmicroscope）用於檢測具有雙折射性的物質，如纖維絲、紡錘體、膠原、染色體等等。和普通顯微鏡不同的是：其光源前有偏振片（起偏器），使進入顯微鏡的光線為偏振光，鏡筒中有檢偏器（一個偏振方向與起偏器垂直的的起偏器），這種顯微鏡的載物台是可以鏇轉的，當載物台上放入單折射的物質時，無論如何鏇轉載物台，由於兩個偏振片是垂直的，顯微鏡里看不到光線，而放入雙折射性物質時，由於光線通過這類物質時發生偏轉，因此鏇轉載物台便能檢測到這種物體。
偏光顯微鏡 凡具有雙折射的物質，在偏光顯微鏡下就能分辨的清楚，當然這些物質也可用染色法來進行觀察，但有些則不可能，而必須利用偏光顯微鏡。
偏光顯微鏡的特點
將普通光改變為偏振光進行鏡檢的方法，以鑑別某一物質是單折射（各向同行）或雙折射性（各向異性）。雙折射性是晶體的基本特性。因此，偏光顯微鏡被廣泛地套用在礦物、化學等領域，在生物學和植物學也有套用。偏光顯微鏡的基本原理
偏光顯微鏡的原理比較複雜，在此不作過多介紹,偏光顯微鏡必須具備以下附屬檔案：起偏鏡，檢偏鏡，補償器或相位片，專用無應力物鏡，鏇轉載物台。
偏光鏡檢術的方式
a.正相鏡檢（Orthscope）:又稱無畸變鏡檢，其特點是使用低倍物鏡，不用伯特蘭透鏡（BertrandLens）,被研究對象可直接用偏振光研究。同時為使照明孔徑變小，推開聚光鏡的上透鏡。正相鏡檢用於檢查物體的雙折射性。
b.錐光鏡檢（Conoscope）：又稱干涉鏡檢，研究在偏振光干涉時產生的干涉圖樣，這種方法用於觀察物體的單軸或雙軸性。在該方法中，用強會聚偏振光束照明。
偏光顯微鏡在裝置上的要求
a.光源：最好採用單色光，因為光的速度，折射率，和干涉現象由於波長的不同而有差異。一般鏡檢可使用普通光。
b.目鏡：要帶有十字線的目鏡。
c.聚光鏡：為了取得平行偏光，應使用能推出上透鏡的搖出式聚光鏡。
d.伯特蘭透鏡：聚光鏡光路中的輔助部件，這是把物體所有造成的初級相放大為次級相的輔助透鏡。它可保證用目鏡來觀察在物鏡後焦平面中形成的平涉圖樣。
（5）偏光鏡檢術的要求
a.載物台的中心與光軸同軸。
b.起偏鏡和檢偏鏡應處於正交位置。
c.製片不宜過薄。
進口偏光顯微鏡最先進的品牌為蔡司：
萬能研究級偏光顯微鏡Axio Scope A1 pol詳細描述：
萬能偏光顯微鏡Axio Scope A1 pol全新的萬能研究級偏光顯微鏡Axio Scope A1 pol是高品質偏光顯微鏡Axioskop 40 pol全新升級產品，遵循蔡司最高質量標準製造，提供優異的價值和性能。她在透射光和反射光的所有標準反差技術和測量技術中擁有許多獨創的特色，是當之無愧的偏光專家！用於石油地質，礦物，晶體，陶瓷，玻璃，聚合物，紡織品的檢驗和研究。
技術參數：
光學系統：ICCS光學系統 鏡體：FEM設計ACR編碼
1、物鏡：5X、10X、20X、50X 可選1.25X、2.5X、100X
2、目鏡：10X/23
3、物鏡轉盤：6孔對中物鏡轉盤
4、觀察方式：透射光：明場、單偏光、正交偏光、錐光
反射光：明場、暗場、單偏光、正交偏光、螢光、微分干涉
5、數位化圖像分析工作站：計算機、印表機、數字攝像頭、軟體
6、可配冷熱台
7、可配顯微分光光度計（測量反射率）
化學通用分析儀器
| 化學通用分析儀器主要用於中間體、染料、醫藥、生化、環保、石油化工、食品、農藥等各類在紫外-可見光區有一定吸收的精細化工產品的分離分析。 |
