內容簡介
《以可靠性為中心的質量設計、分析和控制》主要介紹了以可靠性為中
以可靠性為中心的質量設計分析和控制心的質量設計、分析和控制理論、方法與技術，並列舉了大量案例。全書共分5篇，33章。第一篇導引篇主要論述了為什麼要以可靠性為中心；第二篇可靠性基礎篇，包括可靠性指標、模型、預計、分配、FMEA和FTA等；第三篇可靠性設計篇，包括元器件選用、降額、容差與漂移設計、冗餘設計、電路簡化設計、潛在通路、“三防”、熱設計和靜電防護等12項內容；第四篇管理控制篇主要介紹可靠性的控制管理，包括供應商的控制、元器件質量控制、統計過程控制、質量閉環控制和可靠性評審等；第五篇試驗評價篇，包括可靠性測定試驗、鑑定與驗收試驗、篩選試驗、增長試驗、HALT/HASS及加速壽命試驗。《以可靠性為中心的質量設計、分析和控制》適用於電子產品設計和生產的相關人員，特別是一線的工程技術人員和管理人員，也可供高校教師和研究生參考，或作為培訓教材使用。
目錄
第一篇 導引篇
第1章 引言
1.1 一個電錶的故事
1.2 質量與可靠性
1.2.1 質量的內涵
1.2.2 質量管理的發展階段
1.2.3 可靠性的內涵
1.2.4 可靠性工程及其主要工作項目
1.2.5 可靠性管理與質量管理的關係
1.3 為什麼要以可靠性為中心
1.3.1 現代質量管理的要求
1.3.2 提高生產力水平的要求
1.3.3 消費者利益的要求
1.3.4 國家形象和企業信譽的要求
1.4 本書的內容編排和適用範圍
參考文獻
第二篇 定量分析篇
第2章 產品可靠性表征與壽命分布
2.1 產品的可靠性定義
2.2 產品的可靠性指標
2.2.1 常用的可靠性指標
2.2.2 產品的壽命特徵量
2.3 可靠性指標間的相互關係
2.4 產品的壽命分布
2.5 浴盆曲線與失效率等級
2.6維修度與有效度
第3章 可靠性模型的建立與分析
3.1 可靠性模型的組成
3.3 系統可靠性模型
3.4 建立可靠性模型的程式和原則
第4章 可靠性預計
4.1 可靠性預計的主要方法
4.2 可靠性預計標準的發展及其主要分類
4.3 元器件計數法和應力分析法可靠性預計程式
4.4 計數法可靠性預計
4.5 應力分析法的可靠性預計
4.6 GJB/Z299C給出的普通雙極型電晶體和積體電路預計用數據表
第5章可靠性分配
5.1 可靠性分配考慮的因素
5.2 考慮複雜度和重要度的分配方法
5.3 按預計失效率等比例分配法
5.4 按系統可靠性框圖進行分配的方法
5.5 綜合因子法（工程加權法分配法，CW法）
5.6 可靠性指標分配應注意的事項
第6章 故障模式、效應與危害性分析（FMECA）
6.1 故障模式、影響及危害性分析的概念
6.2 常用標準
6.3 軍標FMEA/FMECA分析的步驟
6.4 QS9000的FMECA方法
6.5 分析實例
第7章故障樹分析
7.1 故障樹分析的概念
7.2 FTA方法基礎
7.3 故障樹的一般方法
7.4 故障樹分析套用實例
7.4.1 壓力罐系統建樹過程
7.4.2 壓力罐系統的故障樹規範化和模組分解
7.4.3 壓力罐系統故障樹定性分析及其套用
7.4.4 壓力罐系統的故障樹定量分析
參考文獻
第三篇 設計技術篇
第8章 可靠性設計的目的及方法
8.1 可靠性設計的指導思想
8.2 可靠性、維修性指標的論證和確定
8.3 可靠性指標與性能指標問的相互關係
第9章 元器件的選用技術
9.1 半導體器件的選用
9.2 電阻器與電位器的選用
9.3 電容器的選用
9.4 電感器的選用
9.5 繼電器的選用
9.6 接外掛程式的選用
9.7 電纜一般套用考慮
第10章 降額設計
10.1 降額設計的定義與合理套用
10.2 降額設計的理論依據
10.3 降額係數的確定
第11章 容差與漂移設計
11.1 容差與漂移設計的概念
11.2 敏感度分析與極差綜合法
11.3 漂移設計的計算機仿真
第12章 儲備（冗餘）設計
12.1 儲備的含義和方式
12.2 各種儲備方式對可靠性的提高
12.3 故障模式對儲備的影響
12.4 靈活套用儲備設計的例子
第13章 電路結構簡化設計
13.1 電路集成化
13.2 數字邏輯電路的簡化
13.3 模擬電路的簡化
第14章潛在通路分析
14.1 潛在通路分析的由來和原理
14.2潛在通路的表現形式和設計預防
第15章 “三防”設計
15.1 防潮設計
15.2 黴菌的危害及防護
15.3 鹽霧的危害及防護
15.4 元件三防處理常用的工藝
15.5 案例
第16章 熱設計
16.1 概述
16.2 傳熱方式
16.3 熱設計的原則
16.4 改善熱設計的方法及示例
第17章 靜電防護（ESD）
17.1 器件使用環境的防靜電措施
17.2 器件使用者的防靜電措施
17.3 器件包裝、運送和儲存過程中的防靜電措施
17.4 設備上ESD的電路保護
17.5 案例
第18章 微電子器件的可靠性安裝
18.1 引線成形與切斷
18.2 在印製電路板上安裝器件
18.3 焊接
第19章 防閂鎖設計
19.1 閂鎖的來源
19.2 閂鎖的防護
19.3 案例
第20章 軟體質量和可靠性設計
20.1 軟體的質量和可靠性設計
20.2 軟體工程化
20.3 軟體可靠性設計準則
參考文獻
第四篇 管理控制篇
第21章 供應商的控制
21.1 供應商的控制
21.2 對分供方或賣主的評定
21.3 供應商管理舉例
第22章 元器件的質量與可靠性控制
22.1 引言
22.2 元器件的選用要求
22.3 各工程階段電子元器件的管理與控制
22.4 元器件可靠性與質量等級
22.5 元器件的質量鑑別
22.6 案例
第23章 製造過程管理與統計過程控制
23.1 製造過程中的質量與可靠性管理
23.2 統計過程控制的原理
23.3 控制圖繪製
第24章 質量閉環控制
24.1 引言
24.2fracas系統的建立
24.3 FRACAS的運行
第25章 可靠性活動與評審
25.1 各設計階段的可靠性活動
25.2 可靠性設計審查
25.3 可靠性大綱評審
參考文獻
第五篇 試驗評價篇
第26章 可靠性試驗及其分類
26.1 可靠性試驗的目的和分類
26.2 可靠性試驗的計畫與要求
26.3 可靠性試驗方案及一般程式
第27章 可靠性統計試驗的技術問題
第28章 可靠性測定試驗
28.1 可靠性測定試驗的方法與要點
28.2 可靠性測定試驗的數據處理方法
28.3 可靠性測定試驗的點估計與置信區間估計
28.4 指數分布的假設檢驗
第29章 可靠性鑑定與驗收試驗
29.1 抽樣檢驗的基本知識
29.2 平均壽命抽樣檢驗原理
29.3 指數分布下失效率抽樣檢驗
第30章 可靠性篩選試驗
30.1 可靠性篩選的目的和意義
30.2 常用的可靠性篩選方法
30.3環境應力篩選（ESS）
30.4 元器件的二次篩選
第31章可靠性增長試驗
31.1 概述
31.2 常用可靠性增長模型
31.3 示例
31.4 可靠性增長試驗計畫曲線
31.5 可靠性增長試驗的跟蹤與控制
31.6 可靠性增長試驗的最終評定
31.7 可靠性增長試驗用表
第32章高加速壽命試驗和應力篩選試驗（HALT/HASS）
32.1 概述
32.2 HALT試驗有效性的基本保障
32.3 HALT試驗程式
32.4 HASS技術與實現過程
32.5 開展HALT和HASS的幾點看法
第33章 壽命和加速壽命試驗
33.1 壽命試驗
33.2 加速壽命試驗
33.3 舉例
參考文獻
