電遷移效應

電遷移效應是金屬線在電流和溫度作用下產生的金屬遷移現象，它可能使金屬線斷裂，從而影響晶片的正常工作。為了避免電遷移效應，可以增加連線的寬度。

基本概念

電遷移是金屬線在電流和溫度作用下產生的金屬遷移現象，它可能使金屬線斷裂，從而影響晶片的正常工作。電遷移在高電流密度和高頻率變化的連線上比較容易產生，如電源、時鐘線等。為了避免電遷移效應，可以增加連線的寬度，以保證通過連線的電流密度小於一個確定的值。

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