正文
泰曼干涉儀由兩個準直透鏡、分束器、標準平板以及標準球面鏡所組成。單色光經小孔、光源準直透鏡後被分束器分解成參考光束和檢測光束。二者分別由標準平面和檢測系統自準返回後,再經分束器,通過觀測準直透鏡重合,形成等厚干涉條紋,如圖1所示。根據條紋的形狀來判斷被測件的光學質量。
斐索干涉儀有平面的和球面的兩種,前者由分束器、準直物鏡和標準平面所組成,如圖2b;後者由分束器、有限共軛距物鏡和標準球面所組成,如圖2b。單色光束在標準平面或標準球面上,部分反射為參考光束;部分透射並通過被測件的,為檢測光束。檢測光束自準返回,與參考光束重合,形成等厚干涉條紋。

除了上述兩種常用的干涉儀外,還有橫向、徑向剪下干涉儀,這種干涉儀沒有參考波面。橫向剪下干涉儀把被測光束分解成兩個相同的,但相互橫移的相干光束。徑向剪下干涉儀則是把被測光束分解成波面面形相似,但橫截面大小不相同的兩相干光束。干涉出現在兩相干光束的重疊區域內。兩者分別如圖3、圖4所示。該兩種干涉儀有多種多樣的形式,如平板式、稜鏡式、透鏡式、光柵式等。橫向剪下干涉儀不能直接測得波面像差;徑向剪下干涉儀系統誤差稍大。雖然這兩種干涉儀易於加工,但仍未能像泰曼干涉儀那樣被廣泛使用。

