SOC設計與測試

《SOC設計與測試》是2003年北京航空航天大學出版社出版的圖書，作者是於敦山。

基本信息

• 名稱：SOC設計與測試
• 作者：於敦山
• 語種：中文
• ISBN：9787810773089
• 出版社：北京航空航天大學出版社
• 頁數：210
• 開本：16開
• 出版時間：2003年8月1日
• 裝幀：平裝
• 版次：1

基本信息

ISBN： 9787810773089

出版時間： 2003-08-01

版　次： 1

頁　數： 210

所屬分類： 圖書>計算機與網際網路>單片機與嵌入式

內容簡介

《SOC設計與測試》分為設計師和測試兩個部分，分別介紹了SOC設計方法和測試方法，大設計部分介紹了在設計時會遇到的問題和傳統的的ASIC設計流程的差別，並介紹邏輯核，存儲器核，及模擬核的設計方法和需要注意的問題，以及SOC系統的驗證方法，在測試部分，介紹SOC中邏輯核，存儲器核及模擬核的測試結構與測試方法，還介紹IDDQ測試大SOC測試中的套用，最後介紹產品測試中需要注意的問題，全書內容全面，可以作為教材。對ASIC設計工程師及系統設計工程師都有較高的參考價值。