內容介紹
本書闡述設計系統晶片(SOC)所需的新的設計、驗證和測試方法學，其基本原理同樣適合於超大規模專用積體電路晶片(ASIC)的設計。 本書分兩大部分：第一部分為1～5章，是本書方法學的主要內容；第二部分為6，7章，介紹實際的電子設計自動化(EDA)工具和設計環境。第1章簡述積體電路的發展，介紹國際半導體技術路線圖，以及SOC設計所面臨的挑戰。第2章闡述SOC設計方法學，包括SOC的模型、設計分層，介紹設計重用和虛擬插座接口技術。第3章闡述SOC／ASIC驗證方法學，包括功能驗證、等價驗證、靜態分析驗證、物理驗證等。第4章闡述SOC／ASIC測試方法學，介紹積體電路測試技術和可測試性設計方法。第5章介紹設計積體電路常用的硬體描述語言及其新發展，包括SystemC，SystemVeri—log，OpenVera等語言。第6章介紹synopsys公司的EDA系統，以及相應的IC設計和驗證方法學。第7章給出一個Philips S0C設計平台的實例。本書主要是面向進入IC設計領域工作的科技人員、相關專業大學生和研究生，以及對高新技術有興趣、需要更新知識的人群。
