基本信息
作者：雷紹充
出版社：西安交通大學出版社
ISBN：9787560539751
出版日期：2012 年1月
開本：16開
頁碼：257
版次：1-1
內容簡介
本書系統化介紹soc測試方法與結構，主要內容包括soc測試的原理和標準，掃描測試與內建自測試，軟體自測試，測試壓縮，低功耗測試，延遲測試，模擬與混合電路測試，rf電路測試，soc與noc測試。
本書既可作為高等院校電子與信息、計算機科學與技術和電氣工程類高年級學生和研究生的專業課教材，也可作為從事積體電路設計、製造、測試、套用、eda和ate專業人員的參考用書。
目錄
第1章 簡介
1.1 soc測試的重要性
1.2 soc測試一些標準
1.2.1 邊界掃描(ieeell49.1)
1.2.2 ieee ll49.6
1.2.3 模擬與混合信號電路邊界掃描標準ieee ll49.4
1.2.4 ieee l500
1.2.5 ieee l687
參考文獻
第2章 掃描測試與內建自測試
2.1 基本的掃描設計結構
2.1.1 基於多路選擇器一d觸發器的掃描設計
2.1.2 帶時鐘的掃描設計
2.1.3 電子敏感掃描設計
2.1.4 增強的掃描設計
2.2 低功耗掃描設計結構
2.2.1 多相或多序低功耗掃描設計
2.2.2 通頻寬度匹配的低功耗掃描設計
2.3 實速掃描設計
2.4 邏輯內建自測試
2.4.1 測試圖形生成電路
2.4.2 測試回響壓縮
2.4.3 邏輯內建自測試結構
2.4.4 低功耗bist結構
2.5 實速邏輯bis了
2.5.1 單捕獲
第3章 soc測試與noc測試
第4章 測試壓縮
第5章 延遲測試
第6章 低功耗測試
第7章 模擬與混合信號測試
第8章 射頻電路測試
第9章 基本軟體的自測試
附錄
