電路可靠性

電路可靠性的定義是系統或元器件在規定的條件下和規定的時間內，完成規定功能的能力。從積體電路的誕生開始，可靠性的研究測試就成為IC設計、製程研究開發和產品生產中的一個重要部分。製程可靠性評估採用特殊設計的結構對積體電路中製程相關的退化機理（WearoutMechanism）進行測試評估。

舉例

例如，人們使用在晶片切割道(ScribeLine)上的測試結構來進行HCI(HotCARRIERInjection)和NBTI(NegativeBiasTemperatureInstability)測試，對器件的可靠性進行評估。可靠性定義中“規定的時間”即常說的“壽命”。根據國際通用標準，常用電子產品的壽命必須大於10年。顯然，人們不可能將一個產品放在正常條件下運積體電路可靠性介紹行10年再來判斷這個產品是否有可靠性問題。可靠性評估採用“加速壽命測試”(AcceleratedLifeTEST，ALT)。把樣品放在高電壓、大電流、高濕度、高溫、較大氣壓等條件下進行測試，然後根據樣品的失效機理和模型來推算產品在正常條件下的壽命。通常的測試時間在幾秒到幾百小時之內。所以準確評估集成產品的可靠性，是可靠性工作者一個最重要的任務。當測試結果表明某一產品不能滿足設定的可靠性目標，人們就要和產品設計、製程開發、產品生產部門一起來改善產品的可靠性，這也是可靠性工作者的另一重要職責。當產品生產中發生問題時，對產品的可靠性風險評估是可靠性工作者的第三個重要使命。