正文
在20世紀50年代末期, 義大利的T.雷其深入細緻地研究了散射振幅的性質,發現對於通常所涉及的、具有良好行為的作用勢,其散射振幅均可延拓到 l的複平面上去(Rel≥-n),並且在l複平面上可能具有極點。這種極點稱為雷其極點。位於 l等於正整數附近的雷其極點就對應體系的束縛態(或共振態),其極點位置在l複平面上的虛部(大於零)與該束縛態的寬度有關。體系能量E 變更時,雷其極點的位置也隨之移動,由此在 l複平面上所畫出的軌跡稱為雷其軌跡。這種軌跡反映出體系的共振態的能量與角動量的關係。後來雷其極點和雷其軌跡的概念被推廣到量子場論的 S 矩陣中去,並在粒子物理學中得到廣泛套用,實驗發現:具有相同內部量子數(如同位旋、奇異數)的低質量強子的能量和自旋J的關係,都在一條直線的雷其軌跡上。而所有低質量強子的雷其軌跡是一組幾乎平行的直線,Δ 粒子的雷其軌跡(m為質量)如圖所示。這一現象含有關於強子結構的深刻意義,受到人們的普遍重視。
