超快正電子源

超快正電子源

中科院上海光學精密機械研究所強場雷射物理國家重點實驗室利用超強超短雷射,成功產生反物質——超快正電子源,這一發現將在材料的無損探測、雷射驅動正負電子對撞機、癌症診斷等領域具有重大套用價值。

基本信息

中科院利用超強超短雷射獲得反物質

記者從中科院上海光學精密機械研究所獲悉,該所強場雷射物理國家重點實驗室利用超強超短雷射,成功產生反物質——超快正電子源,這一發現將在材料的無損探測、雷射驅動正負電子對撞機、癌症診斷等領域具有重大套用價值。3月7日出版的國際學術期刊《電漿物理》發表了這項重要的研究成果。

每一種粒子都有一個與之相對的反粒子,1932年由美國物理學家卡爾·安德森在實驗中證實了電子的反粒子,即正電子的存在。1936年,安德森因發現正電子而獲得了該年度的諾貝爾物理獎。反物質研究在高能物理、宇宙演化等方面具有重要意義,同時也具有重要套用,比如正電子斷層掃描成像(PET)在癌症診斷等方面已廣泛套用。

上海光機所研究人員利用飛秒拍瓦雷射裝置和高壓氣體靶相互作用,產生大量高能電子;高能電子和高Z材料靶相互作用,由韌制輻射機制產生高強度伽馬射線;伽馬射線再和高Z原子核作用產生正負電子對。

“這是我國首次報導利用雷射產生反物質。”強場雷射物理國家重點實驗室沈百飛研究員告訴《中國科學報》記者,正電子譜儀是獲得反物質——超快正電子源的“功臣”。經過精心設計的正電子譜儀,成功解決了伽馬射線帶來的噪聲問題,利用正負電子在磁場中的不同偏轉特性,實驗中在單發條件下就成功觀測到了正電子。

多年以來,中外科學家們一直在探索“利用雷射產生反物質”的有效方法,為了獲得反物質——超快正電子源,中科院上海光機所早在2001年就開始超強超短產生正負電子對的理論研究,提出利用強雷射和納米薄膜靶相互作用產生正負電子對,並取得了一系列研究成果,得到了國際同行的廣泛關注。

沈百飛表示,獲得反物質——超快正電子源將對雷射驅動正負電子對撞機等具有重要意義。未來,在高能物理、材料無損探測、癌症診斷領域有套用前景,由於其脈寬只有飛秒量級,可使探測的時間分辨大大提高,研究物質性質的超快演化。

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