相關詞條
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場發射掃描電子顯微鏡
場發射掃描電子顯微鏡(FESEM)是電子顯微鏡的一種。該儀器具有超高解析度,能做各種固態樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。該儀器利用二...
簡介 查看環境條件 檢查光學系統 檢查真空系統 檢查附屬檔案設施 -
場發射透射電子顯微鏡
可對金屬、礦物、半導體、陶瓷、生物、高分子、複合材料、催化劑等材料進行微觀形貌、晶體結構、晶體缺陷、晶粒晶向及成份分析。
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場發射槍掃描電子顯微鏡
場發射槍掃描電子顯微鏡適用於金屬、陶瓷、半導體、礦物、生物、高分子、複合材料和納米級一維、二維和三維材料的表面形貌進行觀察(二次電子像、背散射電子像);...
儀器類別 指標信息 場發射掃描電子顯微鏡 相關研究 -
電子顯微鏡
電子顯微鏡簡稱電鏡,是根據電子光學原理,用電子束和電子透鏡代替光束和光學透鏡,使物質的細微結構在非常高的放大倍數下成像的儀器。用電子束為光源,顯示標本超...
基本簡介 組成 種類介紹 參數 缺點 -
透射電子顯微鏡
透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope,簡稱TEM),可以看到在光學顯微鏡下無法看清的小於0.2um的細微結構...
簡介 歷史 背景知識 結構原理 成像方式 -
掃描電子顯微鏡
掃描電子顯微鏡(SEM)是1965年發明的較現代的細胞生物學研究工具,主要是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態,即用極狹窄的電子束去掃描樣品,通過...
簡介 發展歷史 工作原理 原理結構 主要性能參數 -
場發射環境掃描電子顯微鏡
Quanta 200 FEG場發射環境掃描電子顯微鏡綜合場發射電鏡高分辨和ESEM環境掃描電鏡適合樣品多樣性的優勢,可對各種各樣的樣品進行靜態和動態觀察...
主要用途 指標信息 -
電子顯微鏡分析
利用電子顯微鏡的高分辨能力、高放大倍率等特點來分析研究物體的組織形貌、結構特徵的一種近代材料物理試驗方法。電子顯微鏡主要有4種類型:①透射式電子顯微鏡;...
電子顯微鏡分析 掃描電子顯微鏡分析 -
北京電子顯微鏡中心
北京電子顯微鏡中心是科技部、教育部、北京市科委於2006年12月在原清華大學電子顯微鏡實驗室基礎上建設的以共建共享方式運行的、開放型的、國家級創新性高端...
中心介紹 組織機構 儀器設備 管理模式 研究領域 -
掃描透射電子顯微鏡
掃描透射電子顯微鏡(scanning transmission electron microscopy,STEM)既有透射電子顯微鏡又有掃描電子顯微鏡的...
簡介 來源 優點 工作原理