主要用途
Quanta 200 FEG場發射環境掃描電子顯微鏡綜合場發射電鏡高分辨和ESEM環境掃描電鏡適合樣品多樣性的優勢，可對各種各樣的樣品進行靜態和動態觀察和分析，在一定壓力的水蒸氣條件下進行各種物質的表面形貌分析和微區成分分析，避免樣品在真空條件下發生失水而發生表面形貌的變化，特別對非導體物質可以不需要進行噴鍍導電膜即可以進行表面形貌和微區成分分析，廣泛套用於各種生物活體、含水物質、非導體材料等物質的表面形貌分析。
儀器類別：0304070202 /儀器儀表 /光學儀器 /電子光學及離子光學儀器 /台式掃描電子顯微鏡
指標信息
1、場發射環境掃描電子顯微鏡解析度：二次電子像高真空模式：30KV時<2.0nm 低真空模式：3KV時<3.5nm ESEM環境真空模式：30KV時<2.0nm 羅賓遜探頭，北散射電子像放大倍數 12X-1,000,000X 加速電壓200V-30KV 樣品室真空<6×10-4－4000Pa 三種真空模式：高真空、低真空和ESEM環境模式 2、X射線能譜儀解析度：138eV 分析範圍：B5－U92
附屬檔案信息：冷卻樣品台0到10℃時，對樣品直到100%的不同相對溫度下的狀態進行觀察和分析。最低可達到-20℃，精確度可到0.1℃ 加熱樣品台溫度控制範圍＝室溫-1000℃；加熱速度＝1℃/min～300℃/min
