內容簡介
《最新積體電路測試技術》系統介紹了常用積體電路測試的原理、方法和技術，範圍涵蓋了數字積體電路、模擬積體電路、SOC器件、數字/模擬混合積體電路、電源模組、積體電路測試系統、測試接口板設計等方面。主要為從事IC測試相關人員全面掌握各類積體電路的測試技術打下良好基礎。
《最新積體電路測試技術》首先介紹了積體電路測試的基本概念和理論，包括積體電路測試的基本原理、測試的分類、測試的作用等，然後分別對數字積體電路、存儲器、各類模擬積體電路、數字/模擬混合電路、SOC、DC-DC模組的測試方法和技術進行了深入細緻的介紹，在此基礎上對IDDQ測試技術以及IC設計到測試的瓶頸和融合問題進行了詳細闡述，並以當前主流大規模積體電路測試系統Sapphire為例，詳細介紹了現代積體電路測試系統(ATE)的軟、硬體架構和特點，最後在DIB測試接口板設計技術中深入論述了ATE測試的重要環節負載板(DIB)的設計技術問題。
《最新積體電路測試技術》可作為從事積體電路設計、測試、套用和積體電路測試設備開發的研究人員、技術人員以及計畫進入積體電路測試領域的相關人員的學習或培訓教材，也可作為高等院校相關專業本科或研究生的教學參考書。
圖書目錄
第1章 積體電路測試概述
第2章 數字積體電路測試技術
第3章 半導體存儲器測試技術
第4章 模擬積體電路測試技術
第5章 數模混合積體電路測試技術
第6章 DSP在混合電路測試中的套用
第7章SOC測試技術
第8章 IVDQ測試
第9章 DC—DC參數測試方法
第10章 積體電路測試系統
第11章 設計到測試的連結
第12章 測試接口板DIB設計技術
參考文獻
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