內容簡介
主要內容涉及數字積體電路容錯設計的三個主要方面：容缺陷(和故障)、容參數偏差以及容軟錯誤；包括3S技術(自測試、自診斷、自修復)的基本原理。從嵌入式存儲、多核處理器和片上網路三個方面論述了缺陷(故障)容忍方法；從參數偏差容忍的角度，論述了抗老化設計和參數偏差容忍設計方法；從處理器和片上網路兩個層次論述了軟錯誤容忍方法；並以國產具有自動復功能的單核及多核處理器為例介紹了相關成果的套用。《數字積體電路容錯設計:容缺陷/故障、容參數偏差、容軟錯誤》的特點是兼具先進性和實用性，系統性強，體系新穎。
《數字積體電路容錯設計:容缺陷/故障、容參數偏差、容軟錯誤》適合於從事積體電路(與系統)容錯設計方向學術研究，以及積體電路EDA工具開發和套用的科技人員參考；也可用作積體電路與半導體專業的高等院校教師、研究生和高年級本科生的教學參考書。
圖書目錄
前言
第1章 緒論
第2章 嵌入式存儲器的容缺陷設計
第3章 多核處理器的容缺陷設計
第4章 片上網路路由器容錯設計
第5章 片上網路容錯路由
第6章 數字電路的複合故障診斷方法
第7章 處理晶片的抗老化設計
第8章 多核處理器容參數偏差設計
第9章 處理器的容軟錯誤設計
第10章 片上網路容軟錯誤通信方法
第11章 微體系結構級可靠性評估方法
第12章 處理器晶片的容錯設計實例
第13章 總結與展望
索引
