名稱
基質輔助雷射解吸電離飛行時間質譜
具體說明
![基質輔助雷射解吸電離飛行時間質譜](/img/7/ce5/nBnauM3XwADM0ADO1MTN2gDM5ETMwADMwADMwADMwADMxAzL1YzLwAzLt92YucmbvRWdo5Cd0FmLyE2LvoDc0RHa.jpg)
儀器類別:0303071402 /儀器儀表 /成份分析儀器 /質譜儀
指標信息:1.質量數測定範圍最高可達40萬Da以上; 2.檢測靈敏度範圍:10-15~10-18摩爾; 3.質量準確度可達5ppm; 4.解析度右達2萬。
附屬檔案信息:配有源後衰變裝置,可對多肽、蛋白質的序列進行分析
機組簡介: 基質輔助雷射角吸附電離飛行時間質譜(MALDI-TOF-MS Reflex Ⅲ):具有操作簡單、快速、譜圖直觀、能耐受一定濃度的鹽和去垢劑等特點,特別適合於混合多肽、蛋白、寡核苷酸的精確質量數測定,其測定質量數範圍最高可達40萬Da以上,靈敏度可達10-15~10-18摩爾,質量準確度5ppm。配有源後衰變(post-source decay, PSD)裝置,計算機自動在線上檢索系統。該儀器每天可測定樣品達數百個,特別適合於蛋白等生物大分子的高通量篩選,還可以寡核苷酸、基因的單核苷酸多態性進行分析;對天然與合成高分子的分子量和分子量分布進行分析。