概述
勞厄法 Lauemethod:用固定不動的單晶作試樣,以連續X射線進行晶體結構分析的方法,以德國物理學家勞厄(M.T.F.V.Laue)的姓氏命名。是X射線結構分析中的粉末法或德拜-謝樂(Debye—Scherrer)法的理論基礎。而在測定單晶取向的勞厄法中,所用單晶樣品保持固定不變動(即θ不變),以輻射束的波長作為變數來保證晶體中一切晶面都滿足布喇格條件,故選用連續X射線束。
【勞厄法】(Laue'method)晶體對`X`射線衍射的照相方法之一。1912年德國物理學家勞厄(1879-1960)首先獲得晶體對`X`射線衍射的照相圖,簡稱“勞厄圖”。此法用含有各種波長的連續譜`X`射線為光源,完整的單晶體為試樣。所得的勞厄圖為一群斑點。根據這些斑點的分布圖樣和黑度,可獲得晶體對稱性和其他內部結構的知識。