圖書信息
書名:極限配合與測量技術(第2版)作 者:張林出版社:人民郵電出版社
出版時間:2010-8-1
ISBN:9787115225191
開本:16開
定價:22.00元
內容簡介
本書包含基礎篇和項目篇。基礎篇包括緒論、幾何量的加工誤差和公差、幾何公差與尺寸公差的關係、表面粗糙度、螺紋的公差與配合、測量技術基礎。項目篇包括內徑百分表測量孔徑、表面粗糙度的測量、軸承的選擇、平鍵的測量、花鍵的檢測、齒輪的測量、螺紋的測量。每個項目又分為若干個任務,便於教學開展和學生理解。本書可作為中職學校機械類和儀器儀表類相關專業的教材,也可供相關工程技術人員參考。
圖書目錄
基礎篇第1章 緒論
第2章 幾何量的加工誤差和公差
第3章 幾何公差與尺寸公差的關係
第4章 表面粗糙度
第5章 螺紋的公差與配合
第6章 測量技術基礎
項目篇
參考答案
參考文獻