X射線粉末衍射法

在X射線衍射分析中，採用單色X射線和粉末狀多晶樣品進 行衍射分析的一種方法。多晶試樣大多數情況是多晶粉末， 也可以是多晶片或絲。衍射線條的位置、強度，可用德拜法、 聚焦法或針孔法等照相記錄。粉末法主要用於物質鑑定、晶 體點陣常數、多晶體的結構、晶粒大小、高聚物結晶度測定等。