Miller-Dieker綜合徵實驗診斷

Miller-Dieker綜合徵,又稱為17p13.3缺失綜合徵,其遺傳學病因主要為涉及PAFAHlBl和/或YWHAE基因的染色體17p13.3區缺失/微缺失。患者的主要臨床表現包括發育遲緩、智力低下、無腦回、腦室擴大、胼胝體發育不良、小頭畸形、心臟畸形及異常面容。實驗室檢查主要為分子生物學檢查,包括染色體核型分析、螢光原位雜交(FISH)、微陣列比較基因組雜交(arrayCGH)、多重連線探針擴增技術(MLPA)等方法。

檢查方法

1.染色體顯帶核型分析
可通過常規顯帶技術分析和高分辨顯帶核型分析進行染色體檢測。常規顯帶核型分析的主要步驟為用特殊溶液(如胰蛋白酶溶液、氫氧化鈉溶液等)處理染色體塗片後進行特定染色,乾燥完畢後用油鏡觀察。高分辨顯帶核型分析是利用試劑處理培養細胞,使細胞分裂同步化,獲得大量分裂早期細長染色體,再經顯帶處理後可顯示更多帶紋,提升解析度。由於引起此病的基因片段很小,顯帶核型分析檢出效果不理想。
2.螢光原位雜交
其基本原理為用螢光染料標記探針,將染色體和標記的探針進行雜交,而後用與螢光染料分子耦聯的單克隆抗體與探針分子特異結合,通過檢測雜交信號來檢測該序列在染色體上的定位。其主要步驟包括染色體樣本處理、玻片製備、預變性及變形、雜交、洗片等。螢光原位雜交可發現更細微的染色體異常,可用於此病的診斷。
3.染色體微陣列(CMA)
(1)微陣列比較基因組雜交:
此方法的基本原理是用螢光染料分別標記正常細胞DNA和受檢樣品DNA製成探針,將二者分別同表面固定有大量基因探針的微小基片(微陣列)進行雜交,通過檢測螢光強度可了解染色體變化,進行圖像分析可定量檢測。其主要步驟包括晶片製備、受檢樣品和正常組織DNA提取、螢光標記、雜交、洗片、乾燥、溶液處理、圖像採集、讀片、分析。外周血微陣列比較基因組雜交具有解析度高、定位精確的特點,可檢測微小的染色體缺失、易位等改變。
(2)單核苷酸多態性微陣列:
是根據人類基因組單核苷酸多態性位點設計探針位點,優勢在於除了能夠檢出CNV以外,還能夠檢測出大多數的單親二倍體以及檢測到低水平的嵌合體及單基因疾病等,有利於大量樣本關聯連鎖研究,但不能識別基因組拷貝數變異。
4. 多重連線探針擴增技術
此方法結合了雜交技術和聚合酶鏈式反應(PCR)技術。其主要過程為探針設計、雜交、PCR擴增、電泳檢測分離產物。具有樣本需求量小、高通量檢測、特異性和敏感性高、操作簡單快速的優點,可有效檢出染色體異常。
5.其他方法
螢光定量聚合酶鏈式反應、、基因晶片檢查亦可檢出染色體片段缺失。

臨床意義

Miller-Dieker綜合徵又稱Ⅰ型無腦回畸形,是由於第17號染色體短臂缺失導致的。此征可通過臨床表現及影像學檢查進行診斷,相關實驗室檢查可明確病因、定位染色體缺陷,並為鑑別診斷提供依據,亦可檢查羊水等樣品進行產前檢查,該病產前診斷羊水染色體核型未見異常占24%,懷疑該病的胎兒染色體核型正常時,應進一步行CMA檢測,其結果可為優生指導提供參考。

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