雷射檢測

雷射檢測技術套用十分廣泛,如雷射干涉測長、雷射測距、雷射測振、雷射測速、雷射散斑測量、雷射準直、雷射全息、雷射掃描、雷射跟蹤、雷射光譜分析等都顯示了雷射測量的巨大優越性。雷射外差干涉是納米測量的重要技術。雷射測量是一種非接觸式測量,不影響被測物體的運動,精度高、測量範圍大、檢測時間短,具有很高的空間解析度。

測距原理

先由雷射二極體對準目標發射雷射脈衝。經目標反射後雷射向各方向散射。部分散射光返回到感測器接收器,被光學系統接收後成像到雪崩光電二極體上。雪崩光電二極體是一種內部具有放大功能的光學感測器,因此它能檢測極其微弱的光信號。記錄並處理從光脈衝發出到返回被接收所經歷的時間,即可測定目標距離。  雷射感測器必須極其精確地測定傳輸時間,因為光速太快。如,光速約為3X10^8m/s,要想使解析度達到1mm,則測距感測器的電子電路必須能分辨出以下極短的時間:  0.001m(3X10^8m/s)=3ps  要分辨出3ps的時間,這是對電子技術提出的過高要求,實現起來造價太高。但是如今的雷射感測器巧妙地避開了這一障礙,利用一種簡單的統計學原理,即平均法則實現了1mm的解析度,並且能保證回響速度。遠距離雷射測距儀在工作時向目標射出一束很細的雷射,由光電元件接收目標反射的雷射束,計時器測定雷射束從發射到接收的時間,計算出從觀測者到目標的距離;LED白光測速儀成像在儀表內部積體電路晶片CCD上,CCD晶片性能穩定,工作壽命長,且基本不受工作環境和溫度的影響。因此,LED白光測速儀測量精度有保證,性能穩定可靠。

測位移原理

雷射發射器通過鏡頭將可見紅色雷射射向被測物體表面,經物體反射的雷射通過接收器鏡頭,被內部的CCD線性相機接收,根據不同的距離,CCD線性相機可以在不同的角度下“看見”這個光點。根據這個角度及已知的雷射和相機之間的距離,數位訊號處理器就能計算出感測器和被測物體之間的距離。  同時,光束在接收元件的位置通過模擬和數字電路處理,並通過微處理器分析,計算出相應的輸出值,並在用戶設定的模擬量視窗內,按比例輸出標準數據信號。如果使用開關量輸出,則在設定的視窗內導通,視窗之外截止。另外,模擬量與開關量輸出可獨立設定檢測視窗。

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