雙稜鏡攝譜儀

簡介

1826年法國科學家菲涅耳(Fresnel)用雙稜鏡將一束相干光的波前分成兩部分，形成分波面干涉，利用測量干涉條紋間距(毫米量級),求得光的波長(納米量級)。此光干涉實驗的物理思想、實驗方法與測量技巧,具有很深的教學價值。本雙稜鏡光干涉實驗儀具有以下優點：

1、配有半導體雷射(650.0nm)單色光源，半導體雷射經大幅度降低光強處理，用其作光源具有相干性且不傷害眼睛的優點，可很方便調出圖像清晰干涉條紋，也為鈉光干涉條紋調節帶來方便，測量二種光的波長進行比較。

2、導軌和轉盤採用高強度優質鋁合金材料、燕尾槽結構、轉盤靈活、不會銹、經久耐用、手感好。

3、帶有黑色擋光罩，可在白光及通風條件下做光學實驗。本儀器可供大專院校基礎物理實驗和設計性研究性物理實驗。

套用本儀器可以完成以下實驗：

1．觀察雙稜鏡的干涉現象。

2．測量雷射器的波長以及鈉燈黃光的波長。

3．觀察其他光源的雙稜鏡光干涉現象。