鍍層測厚儀

鍍層測厚儀採用磁性測厚方法,可無損傷檢測磁性金屬基體(如:鐵、鋼、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆層的厚度(如:鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)。本儀器廣泛地套用於製造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。是材料保護專業必備的儀器。

特點

鍍層測厚儀 有如下特點
1. 測量速度快:測量速度比其它TT系列快6倍;
2. 精度高 :本公司產品簡單校0後精度即可達到1-2%是目前市場上唯一能達到A級的產品,其精度遠高於時代等國內同類.比EPK 等進口產品精度也高;
3. 穩定性:測量值的穩定性和使用穩定性優於進口產品;
4. 功能、數據、操作、顯示全部是中文測量方法 覆層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線螢光法 ,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用於抽樣檢驗。 X射線和β射線法是無接觸無損測量,但裝置複雜昂貴,測量範圍較小。因有放射源,使用者必須遵守射線防護規範。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大於3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時採用。 隨著技術的日益進步,特別是近年來引入微機技術後,採用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智慧型、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的解析度已達0.1微米,精度可達到1%,有了大幅度的提高。它適用範圍廣,量程寬、操作簡便且價廉,是工業和科研使用最廣泛的測厚儀器。 採用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材,檢測速度快,能使大量的檢測工作經濟地進行。

工作原理

鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右,所以不會對樣品造成損壞。同時,測量的也可以在10秒到幾分鐘內完成。

測量原理與儀器

一. 磁吸力測量原理及測厚儀 永久磁鐵(測頭)與導磁鋼材之間的吸力大小與處於這兩者之間的距離成一定比例關係,這個距離就是覆層的厚度。利用這一原理製成測厚儀,只要覆層與基材的導磁率之差足夠大,就可進行測量。鑒於大多數工業品採用結構鋼和熱軋冷軋鋼板衝壓成型,所以磁性測厚儀套用最廣。測厚儀基本結構由磁鋼,接力簧,標尺及自停機構組成。磁鋼與被測物吸合後,將測量簧在其後逐漸拉長,拉力逐漸增大。當拉力剛好大於吸力,磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度。新型的產品可以自動完成這一記錄過程。不同的型號有不同的量程與適用場合。 這種儀器的特點是操作簡便、堅固耐用、不用電源,測量前無須校準,價格也較低,很適合車間做現場質量控制。
二. 磁感應測量原理 採用磁感應原理時,利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀,原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性,則要求與基材的導磁率之差足夠大(如鋼上鍍鎳)。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時,儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產品採用指針式表頭,測量感應電動勢的大小,儀器將該信號放大後來指示覆 層厚度。近年來的電路設計引入穩頻、鎖相、溫度補償等地新技術,利用磁阻來調製測量信號。還採用專利設計的積體電路,引入微機,使測量精度和重現性有了大幅度的提高(幾乎達一個數量級)。現代的磁感應測厚儀,解析度達到0.1um,允許誤差達1%,量程達10mm。 磁性原理 測厚儀可套用來精確測量鋼鐵表面的油漆層,瓷、搪瓷防護層,塑膠、橡膠覆層,包括鎳鉻在內的各種有色金屬電鍍層,以及化工石油待業的各種防腐塗層。
三. 電渦流測量原理 高頻交流信號在測頭線圈中產生電磁場,測頭靠近導體時,就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近,則渦流愈大,反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表征了測頭與導電基體之間距離的大小,也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。由於這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度,所以通常稱之為非磁性測頭。非磁性測頭採用高頻材料做線圈鐵芯,例如鉑鎳合金 或其它新材料。與磁感應原理比較,主要區別是測頭不同,信號的頻率不同,信號的大小、標度關係不同。與磁感應測厚儀一樣,渦流測厚儀 也達到了解析度0.1um,允許誤差1%,量程10mm的高水平。 採用電渦流原理的測厚儀,原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量,如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁製品表面的漆,塑膠塗層 及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導電性,通過校準同樣也可測量,但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。雖然鋼鐵基體亦為導電體,但這類任務還是採用磁性原理測量較為合適

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