性質
近場光學的核心問題是研究隱失場的特徵與探測。掃描近場光學顯微鏡(SN0M或NSOM)根據非幅射場的探測原理,將微小光探針置於隱失場中,以掃描方式獲得局域光的散射、折射、衍射、吸收、偏振、螢光等信息。這樣採集的光學圖像解析度與常規光學顯微鏡不同,不受衍射極限的半波長限制,可以達到波長的幾十分之一。微小光探針可以是納米光源或者納米天線,用於局域照射或光信號的轉換。這些光信號送人光電倍增管可用於顯微成像,送人光譜儀中則可以得到近場光譜,即納米尺度空間分辨的光譜。近場光學顯微是目前唯一一種能夠超過衍射極限的光學觀察技術,套用於納米尺度光物理與光化學、量子器件與納米材料的發光性能、高密度信息存儲、生物體系的原位與動態觀察研究等。利用近場成像中的新的襯度原理還可提供局域化學與相分析信息。