薄片鑑定法

學科：岩礦分析與鑑定
詞目：薄片鑑定法
英文：thin section identification method
釋文：在偏光顯微鏡下鑑定透明礦物和岩石的一種方法。將礦物或岩石標本磨製成薄片，在偏光顯微鏡下觀察礦物的結晶特點，測定其光學性質，確定岩石的礦物成分，研究它的結構、構造，分析礦物的生成順序，確定岩石類型及其成因特徵，最後定出岩石的名稱。薄片鑑定法是地質找礦工作中經常使用的重要方法，也套用於其他工業、農業及醫學等方面。