簡介
膜厚測量儀又稱金屬塗鍍層厚度測量儀，因回響全球環保工藝準則，故目前市場上最普遍使用的都是無損薄膜X射線螢光鍍層測厚儀。
在此技術方面廣大業界一致認同日本精工膜厚測量儀比較領先，因其為全世界第一台膜厚測量儀的生產商。
具體介紹為：進口日本精工（SFT9100M）X-RAY螢光無損金屬薄膜電鍍層厚度測量儀
SFT9100M是精工膜厚儀系列中經濟實用又功能齊全的機型
用途：檢測金屬鍍層膜厚厚度的儀器，保證鍍層厚度品質，減少電鍍成本浪費
技術參數：
可測元素：Ti～U
X射線管：管電壓45KV，管電流1mA
檢測器：比例計數管
樣品觀察：CCD攝像機
對焦方式：雷射自動對焦
測定軟體：薄膜FP法、檢量線法
準直器：2個（0.1mm，0.025*0.3mm）
安全機能：測量室門自鎖功能
Z軸防衝撞功能
儀器自診斷功能
主要特點
★ 自動對焦功能 。配備雷射自動對焦功能，能夠準確對焦，提高測量效率。
★ 具有焦點距離切換功能，適用於有凹凸的機械部件與電路板的底部進行測量
★ 採用檢量線法和FP法，兩個準直器可自動切換，採用雷射自動對焦，並配備有Z軸防衝撞感測器，可防
止在對焦時造成的損壞。
★ 選用Mo靶材X射線管，測量貴金屬更靈敏。
★ 支持多種語言的軟體系統。簡體中文、繁體中文、英語、日語、韓語
★ 搭載樣品尺寸的兼容性
可適用於各種樣品，能夠通過一台儀器測量，從電子部件、電路板到機械部件等高度較高的樣品，從較厚
的樣品（機械零部件）之大型線路板（PCB）及電子元器件等
★ 鹵素燈照明
★ 即時生成測量報告的便捷性 。運用搭載的Microsoft Word? Excel? 可以簡單輕鬆得到製作報告
★ 多種修正功能。基材修正、已知樣品修正、人工輸入修正
★ 搭載了電動X－Y移動平台
進口日本精工（SFT9200）X-RAY螢光無損金屬薄膜電鍍層厚度測量儀
SFT9200是精工膜厚儀系列中普及型
用途：檢測金屬鍍層膜厚厚度的儀器，保證鍍層厚度品質，減少電鍍成本浪費
「SFT9200系列」繼承了擁有了20多年歷史及光輝業績的「SFT系列」(操作性與可靠性共存)的優點，並不斷地發展，成為可對應較廣套用範圍的X射線螢光鍍層厚度測量儀[新標準機型]。
產品副名稱：套用範圍較廣的標準型鍍層厚度測量儀
產品型號：SFT9200、SFT9250、SFT9255
技術參數：
儀器的特長：廣泛套用型
可測元素：Ti～U
X射線管：小型空氣冷卻型高功率X射線管球(W靶)管電壓：45kV 管電流：1mA Be窗
濾波器：
一次濾波器：A1-自動切換
二次濾波器：Co-自動切換
檢測器：比例計數管
樣品觀察：CCD攝像機
對焦方式：雷射自動對焦
測定軟體：薄膜FP法、檢量線法
5個準直器可自動切換
型(Φ0.1、Φ0.2、Φ0.3mm)
型(0.2×0. 05 mm、0.05×0.02 mm)
安全機能：測量室門自鎖功能
Z軸防衝撞功能
儀器自診斷功能
儀器介紹：
SFT系列中標準型儀器
濾波器
另有SFT9250、SFT9255兩種機型
標準配備有Windows2000中文操作界面
採用檢量線法和FP法，測量數據與Word和Excel連結
自動生成報告和數據處理
5個準直器可自動切換
工作檯3維電動，可程式進行自動測量
採用雷射自動對焦，並配備有Z軸防衝撞感測器
可防止在對焦時造成儀器的損壞。
產品特點：
能夠測量無鉛焊錫
配備了薄膜FP法，可以同時測量Sn-Ag，Sn-Bi，Sn-Cu等，無鉛焊錫的鍍層後與成份
搭載中心搜尋軟體
通過掃描樣品可以自動檢測出線及基板點面部分的測量中心位置。
擁有防沖功能
搭載雷射對焦系統
搭載測試報告自動生成軟體
擁有自動測量軟體以及中心搜尋軟體
搭載了薄膜FP法軟體
X射線和紫外線與紅外線一樣是一種電磁波。可視光線的波長為0.000001 m （1μm）左右,X射線比其短為0.000000000001 m至0.00000001 m (0.01- 100 Å)左右。
對某物質進行X射線照射時,可以觀測到主要以下3種X射線。
（1） 螢光X射線
（2） 散亂X射線
（3） 透過X射線
SII的產品是利用螢光X射線得到物質中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線法原理。和螢光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用散亂X射線得到物質的結晶信息(構造)。而透過X射線多用於拍攝醫學透視照片。另外也用於機場的貨物檢查。象這樣根據想得到的物質信息而定X射線的種類。
簡單地說螢光X射線裝置(XRF)和X射線衍射裝置(XRD)有何不同,螢光X射線裝置(XRF)能得到某物質中的元素信息（物質構成,組成和鍍層厚度）,X射線衍射裝置(XRD)能得到某物質中的結晶信息。
具體地說,比如用不同的裝置測定食鹽(氯化鈉=NaCl)時,從螢光X射線裝置得到的信息為此物質由鈉(Na)和氯(Cl)構成,而從X射線衍射裝置得到的信息為此物質由氯化鈉(NaCl)的結晶構成。單純地看也許會認為能知道結晶狀態的X射線衍射裝置(XRD為好,但當測定含多種化合物的物質時只用衍射裝置(XRD)就很難判定,必須先用螢光X射線裝置(XRF)得到元素信息後才能進行定性。
膜厚測量儀工作原理：膜厚測量儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。通過雷射點，一次可以將樣品準確對焦。不會出現人為的操作誤差。在測量高低不一樣的，樣口時，儀器可以自動感應，防止樣品與儀器的機械部件的衝撞。在進行多點測量時，只要在觀察畫面的任何地方上點一下，樣品台會自動移到所點擊的位置，只要將事先測量的信息存到軟體中，就可以通過自己動樣品台進行多點測量。
膜厚測量儀，工作原理