基本信息
書名:數字系統測試圖書編號:2392995
出版社:電子工業
定價:89.0
ISBN:712104542
作者:[美]NirajJha，Sa
出版日期:2007-01-01
版次:
開本:16開
簡介:在半導體積體電路的設計與製造過程中，測試的重要性越來越突出，有關數字系統測試方面的書籍也不斷出現，本書是這些書籍中內容十分全面豐富的一本。本書系統地介紹了數字系統測試相關方面的知識，包括基礎內容方面的自動測試向量生成、可測性設計、內建自測試等，高級內容方面包括IDDQ測試、功能測試、延遲故障測試、CMOS測試、存儲器測試以及故障診斷等，並論述了最新的測試技術，包括各種故障模型的測試生成、積體電路不同層次的測試技術以及系統晶片的測試綜合等，其內容涵蓋了當前數字系統測試與可測試性設計方面的基礎知識與研究現狀等。
本書可作為高等學校計算機、微電子、電子工程等專業的高年級本科生和研究生的教材與參考書，也可供從事相關領域工作，特別是積體電路設計與測試的科研與工程技術人員參考。
圖書目錄
第1章 緒論
1.1 故障及其表現
1.2 故障分析
1.3 測試分類
1.4 故障覆蓋率要求
1.5 測試經濟學
小結
習題
參考文獻
第2章 故障模型
2.1 電路的不同抽象層次
2.2 不同抽象層次的故障模型
2.3 歸納故障分析
2.4 故障模型間的關係
小結
習題
參考文獻
第3章 組合邏輯與故障模擬
3.1 簡介
3.2 預備知識
3.3 邏輯模擬
3.4 故障模擬基礎
3.5 故障模擬方式
3.6 近似的低複雜度故障模擬
小結
補充閱讀材料
習題
參考文獻
第4章 組合電路的測試生成
4.1 簡介
4.2 複合電路表示與值系統
4.3 測試生成基礎
4.4 蘊涵
4.5 結構化測試生成算法：預備知識
4.6 特定的結構化測試生成情況
4.7 非結構化測試生成技術
4.8 測試生成系統
4.9 減少測試中散熱和噪聲的測試生成
小結
補充閱讀材料
習題
附錄4.A蘊涵過程
參考文獻
第5章 時序電路的測試向量自動生成
5.1 時序ATPG方法與故障的分類
5.2 故障壓縮
5.3 故障模擬
5.4 同步電路的測試生成
5.5 異步電路的測試生成
5.6 測試壓縮
小結
補充閱讀材料
習題
參考文獻
第6章 lDD0測試
6.1 簡介
6.2 組合ATPG
6.3 時序ATPG
6.4 組合電路的故障診斷
6.5 內建電流檢測器
6.6 基於電流檢測測試的先進概念
6.7 1DoQ測試的經濟學
小結
補充閱讀材料
習題
參考文獻
第7章 功能測試
第8章 延遲故障測試
第9章 CMOS測試
第10章 故障診斷
第11章 可測試性設計
第12章 內建自測試
第13章 可測試性綜合
第14章 存儲器測試
第15章 高級測試綜合
第16章 系統晶片的測試綜合
