指在一定探測條件下測到的電離輻射粒子數，與在同一時間間隔內由輻射源發射出的該種粒子總數的比值。
探測效率依賴於：
(1)探測器的類型(GM，NaI閃爍體，塑膠閃爍體，正比計數管)
(2)探測器尺寸和外形(面積和體積越大，敏感度越高)
(3)探測器與放射性物質的距離
(4)放射性同位素和放射源的類型(a,b,r,以及他們的能量)
(5)散射對探測器的影響(表面越厚，散射越大)
(6)輻射到達探測器之前的吸收過程(被空氣或探測器外殼)
指在一定探測條件下測到的電離輻射粒子數，與在同一時間間隔內由輻射源發射出的該種粒子總數的比值。
探測效率依賴於：
(1)探測器的類型(GM，NaI閃爍體，塑膠閃爍體，正比計數管)
(2)探測器尺寸和外形(面積和體積越大，敏感度越高)
(3)探測器與放射性物質的距離
(4)放射性同位素和放射源的類型(a,b,r,以及他們的能量)
(5)散射對探測器的影響(表面越厚，散射越大)
(6)輻射到達探測器之前的吸收過程(被空氣或探測器外殼)
