弱束暗場技術

弱束暗場（WBDF， weak-beam dark field）利用偏離布拉格衍射條件較遠的衍射束成像，則得到弱束暗場像。此技術具有較高的分辨能力，主要用於材料缺陷的觀察。

弱束暗場（WBDF， weak-beam dark field）利用偏離布拉格衍射條件較遠的衍射束成像，則得到弱束暗場像，是一種強度很弱的暗場像，其強度取決於偏離的程度，用偏離矢量s表示。s為倒易點到反射球的偏離量。倒易點在反射球內側，s為正;倒易點在反射球外，s為負。基於此原理的電子顯微技術成為弱束暗場技術。