在光的干涉現象發生時，常伴隨也明暗相間的條紋產生，如牛頓環、楊氏雙縫干涉及等原干涉等，都會伴隨干涉條紋條紋的產生。
干涉現象及干涉條紋的出現對於光學測量微小變形具有重要意義，同時也廣泛套用於生活中，如半透膜，攝像機鏡頭等。
產生原理
光波是以正弦波的形式在介質中傳播的，由於光波傳播的獨立性和線性疊加性，兩束或兩束以上同頻光波相遇時，會根據相位的不同出現光強增強或減弱的現象。
干涉條紋以相干光（周期及振動方向相同且相位差恆定的光）為例，簡要解釋一下干涉條紋的產生原理。如圖所示，間隔為d的兩條狹縫S1和S2產生的兩束波長為 的相干光發生干涉，並在距離為D的螢幕上產生干涉條紋，現判斷距離中點O為x的P點的光強。
干涉條紋先計算兩束光的光程差 ：
干涉條紋
干涉條紋當n為偶數時，光程差為波長的整數倍，振幅增大，光強增強，為亮條紋；n為奇數時為暗條紋。故可知，在一定的距離x下亮度是恆定的，且隨著x的變化明暗交替出現，即產生干涉條紋。
套用
干涉現象及干涉條紋的出現對於光學測量微小變形具有重要意義，牛頓環、劈尖干涉等都可以經過簡單改造製成測量微小變形的儀器。由於其方式是將距離轉化為條紋數與光波長的函式，故精度很高，可以達到光波長量級。如圖為牛頓環的干涉條紋。
牛頓環