射線檢驗

射線檢驗是利用具有高穿透能力的電磁輻射 X射線和γ射線，在不破壞受檢材料的情況下，對其內部質量進行檢查的一種無損檢測方法。

射線檢驗

正文

利用具有高穿透能力的電磁輻射 X射線和γ射線，在不破壞受檢材料的情況下，對其內部質量進行檢查的一種無損檢測方法。
射線檢驗是套用較早的材料檢測方法之一。1896年，即德國物理學家倫琴 (W.K.Rntgen)發現Χ射線的第二年,英國的霍爾-愛德華茲(Hall-EdWards)和拉德克利夫(Radcliffe)便把 X射線用於醫療診斷；不久他又將X射線用於檢查金屬中缺陷。γ射線檢驗始於1925年，當時，皮隆 (H.Pilon)和拉博德(M.A.Laborde)用鐳對蒸汽機進行射線檢查。1948年以後，由於人工放射性同位素的出現，γ射線檢驗的套用日趨廣泛。
檢驗原理 X和γ射線的波長短,能夠穿過一定厚度的物質，並且在穿透的過程中與物質中的原子發生相互作用。這種相互作用引起輻射強度的衰減，衰減的程度又同受檢材料的厚度、密度和化學成分有關。因此，當材料內部存在某種缺陷而使其局部的有效厚度、密度和化學成分改變時，就會在缺陷處和周圍區域之間引起射線強度衰減的差異。如果用適當介質將這種差異記錄或顯示出來，就可據以評價受檢材料的內部質量。
X射線檢驗和γ射線檢驗,基本原理和檢驗方法無原則區別,不同的只是射線源的獲得方式。X射線源是由各種X射線機、電子感應加速器和直線加速器構成的從低能(幾千電子伏)到高能(幾十兆電子伏)的系列，可以檢查厚至 600mm的鋼材。γ射線是放射性同位素在衰變過程中輻射出來的。常用的γ射線源及其主要特性見表。

射線檢驗

檢驗方法 射線檢驗因記錄或顯示介質的不同，有多種方法。常用的方法：①膠片照相法(圖1)。用X射線膠片作為記錄介質,這種方法直觀、可靠，而且靈敏度較高。用X射線源時，分辨力較高(用γ射線源時，分辨力要低些),並能提供永久性記錄；其缺點是成本較高。②螢光屏觀察法（圖2）。這種方法是：射線束透過物體直接照射在螢光屏上，轉換成可見的圖象。這種方法的優點是快速、簡便、檢驗費用低。但由於亮度較低，難於觀察細節，分辨力較差。因此多採用圖象增強器，使亮度提高几千倍。如果配合工業閉路電視系統,就成為工業X射線電視。它不僅具有螢光屏觀察法的優點，而且易於實現檢驗的自動化，主要適用於形狀簡單的零部件檢查，不過靈敏度仍不如膠片照相法。③還有一些套用較少的方法，如乾板射線照相法、輻射測量法和高速射線照相法等。目前在醫療診斷上已用電子計算機控制的層析照相法（通稱CT），可望套用於工業。無論採用何種射線檢驗都要加強人身安全防護。

射線檢驗

射線檢驗

射線檢驗幾乎進入每一個工業領域。它既用於金屬檢查，也用於非金屬檢查；既用於零部件檢查，也用於組合裝配件檢查。對金屬內部可能產生的缺陷，如氣孔、針孔、夾雜、疏鬆、裂紋、偏析、未焊透和熔合不足等，都可以用射線檢查。圖3為幾種常見的鑄造缺陷圖象。

射線檢驗

　參考書目
　ASM Metals Handbook, 8th ed.,Vol.11,Non-destructive Inspection and Quality Control,ASM,1976.
　J.F.Hinsley,Non-Destructive Testing, MacDonald & Evans Ltd.,London, 1959.
　Richard A. Quinn, Claire C.Sigl,radiography in Modern Industry,4th ed., Eastman Kodak Co.,Rochester, NeW York,1980.

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