射線檢驗
正文
利用具有高穿透能力的電磁輻射 X射線和γ射線,在不破壞受檢材料的情況下,對其內部質量進行檢查的一種無損檢測方法。射線檢驗是套用較早的材料檢測方法之一。1896年,即德國物理學家倫琴 (W.K.Rntgen)發現Χ射線的第二年,英國的霍爾-愛德華茲(Hall-EdWards)和拉德克利夫(Radcliffe)便把 X射線用於醫療診斷;不久他又將X射線用於檢查金屬中缺陷。γ射線檢驗始於1925年,當時,皮隆 (H.Pilon)和拉博德(M.A.Laborde)用鐳對蒸汽機進行射線檢查。1948年以後,由於人工放射性同位素的出現,γ射線檢驗的套用日趨廣泛。
檢驗原理 X和γ射線的波長短,能夠穿過一定厚度的物質,並且在穿透的過程中與物質中的原子發生相互作用。這種相互作用引起輻射強度的衰減,衰減的程度又同受檢材料的厚度、密度和化學成分有關。因此,當材料內部存在某種缺陷而使其局部的有效厚度、密度和化學成分改變時,就會在缺陷處和周圍區域之間引起射線強度衰減的差異。如果用適當介質將這種差異記錄或顯示出來,就可據以評價受檢材料的內部質量。
X射線檢驗和γ射線檢驗,基本原理和檢驗方法無原則區別,不同的只是射線源的獲得方式。X射線源是由各種X射線機、電子感應加速器和直線加速器構成的從低能(幾千電子伏)到高能(幾十兆電子伏)的系列,可以檢查厚至 600mm的鋼材。γ射線是放射性同位素在衰變過程中輻射出來的。常用的γ射線源及其主要特性見表。
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