概述
名稱：薄膜厚度測量儀用途：適用於塑膠薄膜量程範圍內各種材料的精確厚度測量。
檢測意義
包裝材料厚度是否均勻一致，是檢測薄膜各項性能的基礎。薄膜材料厚度不均勻，會影響到薄膜材料的拉伸強度、阻隔性等性能，更會影響薄膜的後續加工；對材料厚度實施高進度控制也是確保質量與控制成本的重要手段。用途
塑膠薄膜厚度儀採用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規範性和準確性。專業適用於量程範圍內的塑膠薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、矽片等各種材料的厚度精確測量。特徵
1、嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力，同時支持各種非標定製2、測試過程中測量頭自動升降，有效避免了人為因素造成的系統誤差
3、支持自動和手動兩種測量模式，方便用戶自由選擇
4、系統自動進樣，進樣步距、測量點數和進樣速度等相關參數均可由用戶自行設定
5、實時顯示測量結果的最大值、最小值、平均值以及標準偏差等分析數據，方便用戶進行判斷
6、配置標準量塊用於系統標定，保證測試的精度和數據一致性
7、系統支持數據實時顯示、自動統計、列印等許多實用功能，方便快捷地獲取測試結果
8、系統由微電腦控制，搭配液晶顯示器、選單式界面和PVC操作面板，方便用戶進行試驗操作和數據查看
9、標準的RS232接口，便於系統與電腦的外部連線和數據傳輸
10、支持Lystem™實驗室數據共享系統，統一管理試驗結果和試驗報告
技術指標
塑膠薄膜測厚儀解析度：0.1μm
測量速度：10次/min（可調）
測試壓力：17.5±1KPa（薄膜）；50±1KPa（紙張）
接觸面積：50mm2（薄膜）；200mm2（紙張）
註：薄膜、紙張任選一種；非標可定製
進樣步距：0～1000mm
進樣速度：0.1～99.9mm/s
電源：AC220V50Hz
外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)
淨重：32kg
符合標準
ISO4593、ISO534、ISO3034、GB/T6672、GB/T451.3、GB/T6547、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、JISK6250、JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817
儀器配置
標準配置：主機、標準量塊一件
選購件：專業軟體、通信電纜、測量頭、配重砝碼
