內建自測試

簡介

內建自測試（英語： built-in self-test, BIST）是可測試性設計的一種實現技術。

可測試性設計

可測試性設計（英語： Design for Testability, DFT）是一種積體電路設計技術，它將一些特殊結構在設計階段植入電路，以便設計完成後進行測試。電路測試有時並不容易，這是因為電路的許多內部節點信號在外部難以控制和觀測。通過添加可測試性設計結構，例如掃描鏈等，內部信號可以暴露給電路外部。總之，在設計階段添加這些結構雖然增加了電路的複雜程度，看似增加了成本，但是往往能夠在測試階段節約更多的時間和金錢。

掃描鏈

掃描鏈（英語： Scan chain）是可測試性設計的一種實現技術。它通過植入移位暫存器，使得測試人員可以從外部控制和觀測電路內部觸發器的信號值。

相關條目

•掃描鏈