內容簡介
系統晶片SoC能實現一個系統的功能，它是從整個系統的功能和性能出發，採用軟硬結合的設計和驗證方法，利用芯核復用及深亞微米技術，在一個晶片上實現複雜的功能。系統晶片具有速度快、集成度高、功耗低等特點。《系統晶片SoC的設計與測試》詳細介紹了系統晶片SoC的設計與測試的關鍵技術和主要方法。全書共15章，內容包括：系統晶片的設計模式與流程、系統晶片的匯流排結構、芯核設計、軟硬體協同設計、系統晶片的存儲系統設計、系統晶片中模擬/混合信號的設計、系統晶片的低功耗設計、信號完整性、系統晶片的驗證、系統晶片的可測性設計、測試調度與測試結構的最佳化設計、芯核的測試、系統晶片的物理設計、片上網路等。作者簡介
潘中良，博士，教授。電子科技大學（成都）電路與系統專業博士畢業，中山大學博士後出站。主持或參加了國家自然科學基金項目、國家八五重點科技攻關項目以及省部級科研項目等十餘項，在國內外學術期刊與國際會議上發表學術論文五十餘篇。主要從事大規模積體電路的設計與測試、嵌入式系統設計、計算機套用等方面的科研與教學工作。目錄
前言第1章緒論
1.1積體電路的設計流程
1.2系統晶片的結構
1.3系統晶片的關鍵技術
1.3.1設計復用
1.3.2低功耗設計
1.3.3軟硬體協同設計
1.3.4匯流排架構
1.3.5可測性設計
1.3.6設計驗證
1.3.7物理綜合
第2章系統晶片的設計模式與流程
2.1系統晶片的系統級設計
2.2系統晶片的設計流程
