《光柵投影三維精密測量》

《光柵投影三維精密測量》可用作從事光學三維測量、機器視覺等領域的科研人員和研究生的參考書。

基本信息

內容簡介

光學三維測量技術以現代光學為基礎，融光電子學、圖像處理、圖形學等為一體，是科學技術飛速發展所催生出的現代測量技術。基於條紋投影的三維測量方法通過將一定規則的光柵條紋投影到物體表面，對獲取到的條紋圖像作為三維信息的載體加以分析，由視覺原理得到物體的表面信息。《光柵投影三維精密測量》從構建條紋投影三維測量系統的角度，對視覺圖像處理、攝像機模型、系統結構、標定方法、光柵相位校正、快速解相位、點雲拼接與處理等諸方面的關鍵問題進行研究和分析，給出了新的方法和思路，旨在提高三維測量系統的整體性能。

目錄

前言
第一章緒論
1.1引言
1.2三維測量技術發展現狀
1.2.1接觸式三維測量
1.2.2非接觸式三維測量
1.3光柵投影法關鍵問題分析
1.3.1系統光學結構
1.3.2條紋圖像處理
1.3.3發展趨勢
1.4本書內容概述
第二章視覺測量中的圖像處理
2.1圓標識點的識別
2.1.1圓標識點識別方法分析
2.1.2實用的圓標識點識別方法
2.1.3檢測可能的標識點

相關詞條

相關搜尋

熱門詞條

聯絡我們