利用高電壓撞擊靶材產生X射線穿透來檢測電子元器件、半導體封裝產品內部結構構造品質、以及SMT各類型焊點焊接質量等。
型號:XD7500NT
參考 標準:《IPC-A-610E電子組裝件的驗收標準》、《GB/T 17359-1998電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析方法通則》
測試項目:
1、積體電路的封裝工藝檢測:層剝離、開裂、空洞和打線工藝;
2、印刷電路板製造工藝檢測:焊線偏移,橋接,開路;
3、表面貼裝工藝焊接性檢測:焊點空洞的檢測和測量;
4、連線線路檢查:開路,短路,異常或不良連線的缺陷;
5、錫球數組封裝及覆晶片封裝中錫球的完整性檢驗;
6、高密度的塑膠材質破裂或金屬材質檢驗;
7、晶片尺寸量測,打線線弧量測,組件吃錫面積比例量測。