X-RAY透視顯微鏡

X-RAY透視顯微鏡

X-RAY透視顯微鏡能夠進行亞微米級檢測,廣泛適用於多層線路板(PCB)、線路板組裝(PCBA)、鋰電池、半導體封裝、汽車行業等對於封裝後內部物件的位置以及形態進行透視觀察測量。

簡介
  X-RAY透視顯微鏡能夠進行亞微米級檢測,廣泛適用於多層線路板(PCB)、線路板組裝(PCBA)、鋰電池、半導體封裝、汽車行業等對於封裝後內部物件的位置以及形態進行透視觀察測量。可在LCD平板顯示器上進行實時檢查,解析度達到1.3兆-2.0兆像素,對LED類電子產品、工業電器的產品鑑定提供最好的技術支持和精確的鑑定數據。

代表設備

型號:XD7500NT
設備優點:
1、高解析度-950NM(0.95UM)特徵識別。
2、高倍放大-1500倍幾何放大。
3、成像速度快,可連續實時成像。
4、非接觸式檢驗工具,不對樣品做任何破壞。

套用

X-RAY透視顯微鏡曾用於《對某型小轎車前方配置的安全氣囊是否存在質量缺陷進行鑑定》、《對涉及車輛自燃原因進行物證鑑定》、《醫用接骨螺釘斷裂 質量鑑定》、《中央空調系統不能製冷制熱問題的司法鑑定》、《螺釘產品質量缺陷物證鑑定》等多個質量分析物證鑑定案例中。

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