X射線單晶面探儀

X射線單晶面探儀,測定物質分子在低溫或室溫下的晶體結構和分子結構,確定物質分子中原子在空間的位置和排列,了解原子或分子間的相互作用。

簡介

X射線單晶面探儀 安放地點:10號樓一層

主要用途

測定物質分子在低溫或室溫下的晶體結構和分子結構,確定物質分子中原子在空間的位置和排列,了解原子或分子間的相互作用。 對從分子結構出發設計分子器件,探索功能材料與結構的關係,新型催化劑的催化機理,納米材料性能的解釋具有指導作用。
儀器類別:0303050202 /儀器儀表/成份分析儀器 /四圓單晶X射線衍射儀
指標信息:額定功能:18KW 額定電壓:20KV~60KV 最大額定電流:300mA IP檢出面積:466×256mm 像素尺寸:100×100μm 測角範圍:2θ=-60°~144°
附屬檔案信息:低溫附屬檔案最低溫度-180℃,溫度精度±0.5,不用液氮,在X,Y,Z方向上調整噴氣位置,並配有國際晶體學會晶體結構資料庫(英國劍橋)

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