簡介
TEM = Transmission Electron Microscope 透射電子顯微鏡，簡稱：透射電鏡。描述
透射電鏡是研究材料的重要儀器之一，在納米技術的基礎研究及開發套用中也不例外。但是用透射電鏡研究材料微觀結構時，試樣必須是透射電鏡電子束可以穿透的納米厚度的薄膜。單體的納米顆粒或納米纖維一般是透射電鏡電子束可以直接穿透的。研究者通常把試樣直接放在微柵上進行透射電鏡觀察。但是由於納米顆粒或納米纖維容易團聚，因此，用這種方法常常得不到理想的結果，有些研究內容也難以實施。比如∶納米顆粒的表面改性的研究，納米纖維的橫切面研究都比較困難，研究界面問題則有更大的難度。因此，納米材料的透射電鏡研究，其樣品製備問題是一個值得探討的重要課題。對此，方克明教授進行了研究，探索了一種比較適用的制樣方法。該方法可以從納米顆粒或微米顆粒中直接切取可以進行透射電鏡研究的薄膜，對進行納米纖維橫切面觀察或納米界面觀察的制樣也有很高的效率。這一技術的特點是從納米或微米尺度的試樣中直接切取可供透射電鏡或高分辨電鏡研究的薄膜。試樣可以為簡單顆粒或表面改性後的包覆顆粒，對於纖維狀試樣，既可以切取橫切面薄膜也可以切取縱切面薄膜。對含有界面的試樣或納米多層膜，該技術可以製備研究界面結構的透射電鏡試樣。技術的另一重要特點是不損傷試樣的原始組織。制膜過程中不使用高溫，不接觸酸鹼，必要時也可以不接觸水或水溶液。
TEM = Test for English Majors 英語專業等級考試
分為英語專業四級(TEM4)和八級(TEM8) 考試目的是為檢測全國高校本科英語專業教學大綱執行情況而進行的本科教學考試。
報名資格
參加本科專業英語四級統測報名對象為：
（1）經教育部備案或批准的高等院校中英語專業二年級本科生。
（2）經教育部備案或批准的高等院校中修完英語專業基礎階段教學大綱規定課程的二、三年制最後一學年的大專生。
（3）教育部備案或批准有學歷的成人高等教育學院中四年制即脫產學習的英語專業（第二學年）本科生；五年制即不脫產學習的、修完英語專業基礎階段教學大綱規定課程（第三學年）的本科生。不脫產的三年制大專生，必須在第三學年時方可報名參加專業英語四級測試。
（4）重點外語類院校中，非英語專業的本科生中當年參加英語六級考試且成績在60分以上，可參加當年專業英語四級考試。
（5）參加四級測試的考生只有一次補考機會。
參加本科專業英語八級統測報名對象為：
（1）經教育部備案或批准的高等院校中英語專業四年級本科生。
（2）經教育部批准有學歷的成人高等教育學院中完成四年制即脫產學習的英語專業（第四學年）本科生；五年制即不脫產學習英語專業（第五學年）的本科生。
（3）非英語專業六級考試通過的學生可報名參加專業英語八級考試。
（4）參加八級測試的考生只有一次補考機會。
凡未通過基礎階段（TEM4）統測的考生，也可參加高年級階段（TEM8）的統測。
英語專業的專生本學生因超出英語專業基礎階段（TEM4）統測規定的考試年限（祥見報名對象），一律不得參加英語專業基礎階段（TEM4）統測，但可在英語專業專生本學習的最後一學期參加高年級階段（TEM8）統測；因各種原因未在規定的考試年限參加TEM4（第四學期）或TEM8（第八學期）統測的專業英語考生，不得以補考名義參加次年的TEM4或TEM8統測。
