概述
Automatic Test Pattern Genaration(ATPG)自動測試圖形向量生成是在半導體電器測試中使用的測試圖形向量由程式自動生成的過程。測試向量按順序地載入與器件的輸入腳上，輸出的信號被收集並與預算好的測試向量相比較從而判斷測試的結果。ATPG有效性是衡量測試錯誤覆蓋率的重要指標。
一個ATPG的周期可以分為兩個階段：
1、測試的生成
2、測試的套用
在測試的生成過程中，針對電路的設計的測試模型在Gate或Transistor Level產生，以使錯誤的電路能夠被該模型所偵測。這個過程基本上是個數學過程，可以通過以下幾個方法獲得：
1、手工方法
2、算法產生
3、偽隨機產生－－軟體通過複雜的ATPG程式產生測試圖形向量
在創建一個測試時，我們的目標應該是在有限存儲空間內執行高校的測試圖形向量。由此可見，ATPG必須是在滿足一定錯誤覆蓋率的情況下，產生儘可能少的測試向量。主要考慮到下述因素：
1、建立最小測試組所需要的時間
2、測試圖形向量的大小，軟體、硬體的需求
3、測試過程的長度
4、載入測試圖形向量所需的時間
5、外部設備
現在被廣泛使用的ATPG算法包括：D算法，PODEM算法和FAN算法。任何算法都需要一種叫“path sensitization”的技術，它指的是在電路中尋找一條路徑以使得路徑中的錯誤都能表現在路徑的輸出端。
最廣泛套用的算法是D算法，D代表1而D'代表0，D和D'互補。具體的方法在此不再贅述。
產生步驟
ATPG產生過程包含以下步驟：1、錯誤選擇，選擇需要測試的錯誤
2、初始，尋找合適的輸入向量集
3、傳輸向量集
4、比較結果
