概述
2651A型專門為高功率電子的特性分析而最佳化設計，提供業內可用的最寬電流量程。該量程對於研發、可靠性及生產測試套用至關重要，例如測試高亮度LED (HBLED)、功率半導體、DC-DC轉換器、電池，以及其他高功率材料、元件、模組和組件。
2651A數字源表兩種測量模式
2651A型可選擇數位化或積分測量模式，用於對瞬態和穩態行為進行精密特性分析。兩個獨立的模/數（A/D)轉換器定義每種模式——一個用於電流，另一個用於電壓，可同時用於精密源讀回，不會影響測試效率。
數位化測量模式的18位A/D轉換器能夠以1微妙每點進行連續採樣，每秒可捕獲多達1百萬個讀數，使其成為波形捕獲及高精度測量瞬態特徵的最佳選擇。而競爭方案必須通過對多個讀數進行平均來產生一次測量結果，並且往往不能測量瞬態行為。
積分測量模式基於22位A/D轉換器，最佳化了儀器在需要最高可能測量準確度和解析度套用中的工作性能。這樣可確保精密測量新一代器件中的極小電流和電壓。全部2600A系列儀器均具有積分測量工作模式。
寬動態範圍
通過TSP-Link並聯兩個2651A單元，可將系統的電流量程從50A提高至100A。這比最接近的競爭方案高兩倍半至五倍。兩個單元串聯時，電壓量程可從40V提高至80V。全部2600A系列儀器中的嵌入式測試腳本處理器(TSP®)使用戶能夠將多個單元作為單台儀器進行定址，使其一致動作，從而簡化測試。2651A型的內置觸發控制器能夠以500納秒同步所有連結通道的工作。2651A型的這些能力提供了業內可用的最寬動態範圍，使其非常適合於各種大電流、大功率測試套用，包括：
功率半導體、HBLED和光器件特性分析和測試
GaN、SiC及其他複合材料和器件的特性分析
半導體結溫特性分析
可靠性試驗
高速、高精度數位化
電遷移研究
高速脈衝
為了將器件在測試期間的自熱(這也是大功率半導體和材料的普遍問題)降至最小，2651A型提供了高速脈衝能力，使用戶能夠以高準確度源出和測量脈衝。脈寬從100μs至DC、占空比從1%至100%可程式。而競爭方案通常受限於儀器占空比編程靈活性。
測試腳本開發工具
儀器中嵌入了吉時利基於lxi的I-V測試軟體TSP Express，所以無需軟體安裝和編程。從基本到高級測試，TSP Express均能以簡單三步提供器件數據：連線、配置和採集。它還簡化了儀器連線，允許更高的脈衝水平。能夠以圖形或表格格式查看結果，然後導出至.csv格式檔案，可用於電子表格軟體。還提供另外兩款用於創建測試序列的強大軟體工具。Test Script Builder套用軟體支持TSP腳本的創建、修改、調試、運行和管理。一款基於ivi的LabVIEW®驅動簡化了將2651A集成至LabVIEW測試序列的過程。
