概述
2657A是吉時利2600A系列高速、精密源測量單元數字源表系列產品增加了高電壓功能。此系列儀器能幫助客戶分析範圍更寬的功率半導體器件和材料。2657A內建3,000V、180W源，支持以極低的成本向被測器件輸出5倍於最接近競爭系統的功率，並且，構建至2657A的精密、高速6位半測量引擎的1fA（飛安）電流測量解析度滿足了下一代功率半導體器件的低漏電要求。
2657A高電壓數字源表最佳化配置
2657A有這些最佳化之處：二極體、FETs和IGBTs等功率半導體器件的高壓測試套用以及氮化鎵(GaN)、碳化矽(SiC)等新材料及其它複合半導體材料和器件的特性分析。而且，2657A還適於高速瞬態分析以及在高達3000V的各種電子器件上進行故障測試和漏電測試。
類似於2600A系列的其它產品，2657A提供了極高的靈活性、四象限電壓和電流源/負載，外加精密電壓計和電流計。2657A在一個全機架機箱中整合了多種儀器功能：半導體特性分析儀、精密電源、真電流源、6位半DMM、任意波形發生器、電壓或電流脈衝發生器、電子負載和觸發控制器，而且通過吉時利的TSP-Link®技術完全可擴展至多通道、緊同步系統。與功率相對有限的同類競爭方案所不同的是，2657A的源或阱能力高達180W直流功率(±3,000V@20mA，±1500V@120mA)。而且，2657A具有1fA解析度，甚至在輸出3000V高壓的同時還能快速、準確地進行亞皮安級電流測量。
數位化或集成測量模式
對於瞬態和穩態特性分析（包括快速變化的熱效應）而言，2657A可以選擇數位化測量模式或集成測量模式。每種模式由兩個獨立的模數轉換器(ADC)定義：一個用於電流，另一個用於電壓，這兩個ADC同步工作並在不犧牲測試吞吐量的前提下確保源回讀的準確性。數位化測量模式的18bit模數轉換器支持1毫秒每點的採樣，使用戶能同步採樣電壓和電流瞬時值。反之，競爭方案通常須對多個讀數取平均值後得出結果，所以競爭方案的瞬態特性分析速度不夠快。基於22bit模數轉換器且為整個2600A系列儀器所共有的集成測量模式，最佳化了2657A在需要最高測量準確度和解析度套用中的操作，確保了下一代功率半導體器件常見的極低電流和極高電壓的高精密測量。
測試開發工具
無需安裝軟體或使用吉時利基於LXI的I-V測試軟體工具TSP Express編程就能實現基本的器件特性分析。用戶只需將PC連線至LXI LAN連線埠並用任意支持Java的Web瀏覽器即能訪問TSPExpress。測試結果可以用圖形方式或列表方式查看，然後導出為電子表格套用的.csv檔案。2657A提供創建測試序列的兩種附加工具：測試腳本生成器套用（用於創建、修改、調試、運行和管理TSP腳本）和基於IVI的LabVIEW®驅動程式（簡化了將2657A集成至LabVIEW測試序列）。測試腳本生成器套用的新調試功能使測試項目開發更方便並且更有成效。
ACS軟體基礎版也是元器件特性分析的一個選件。最新發布版具有的豐富特性便於分析高電壓和大電流元器件。已更新的附帶測量庫用於支持高壓2657A和大電流2651A高功率數字源表的直流和脈衝工作模式。通過測試大多數器件的輸入、輸出和傳輸特性，這些測量庫支持FETs、BJT、二極體、IGBTs等各種功率器件。一種特殊的“追蹤模式”用簡單滑動條實現對儀器電壓或電流輸出的實時控制。
連線和探測方案
2657A能通過兼容現有高壓測試套用的標準安全高壓(SHV)同軸電纜連線至測試系統的其它儀器。一台或兩台大電流2651A測量儀器以及多達3台低功率SMU儀器（其它2600A系列儀器或4200-SCS半導體特性分析系統）的器件測試系統。
