吉時利2651A

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定義

該源表專門針對大功率電子器件的特性分析和測試而最佳化設計，可幫助用戶在研發、可靠性及生產領域提高生產力，包括高亮度LED、功率半導體、DC/DC轉換器、電池，以及其他大功率材料、元件、模組和組件的特性分析和測試。與2600A系列產品的每個成員一樣，2651A具有高靈活性、四象限電壓和電流源/負載，組合了精密電壓和電流表。大功率2651A型數字源表進一步豐富了2600A系列產品。

特性

兩種測量模式：數位化或積分
2651A型有兩種測量模式可對瞬態和穩態行為進行精密地特性分析，包括快速變化的熱效應。每種模式均由其獨立的模/數(A/D)轉換器定義。
在數位化測量模式下，連續進行1μs/點採樣，每秒可捕獲1,000,000個讀數。其18位A/D轉換器使用戶能夠精密測量瞬態特性。對於更準確的測量，可利用基於22位A/D轉換器的積分測量模式。全部2600A系列儀器均具有積分測量模式。
每種測量模式下使用兩個A/D轉換器(一個用於電流，另一個用於電壓)，可同時運行用於準確源讀回，不會影響測試效率。

雙數位化A/D轉換器以高達1μs/點速率進行連續採樣，同時對電流和電壓波形進行特性分析。
高速脈衝
2651A型能夠準確輸出和測量短至100μs的脈衝，將測試期間的自熱效應影響降至最低。更大的控制靈活性使用戶能夠在100μs至DC範圍內編程脈寬，在1%至100%範圍內編程占空比。單台儀器可輸出高達50A電流脈衝，兩台組合可輸出高達100A電流脈衝。
擴展能力
利用TSP-Link，可將多台2651A和其他2600A系列儀器組合在一起，形成最多64路通道的更大集成系統。利用內置500ns觸發控制器，確保精密定時和嚴格通道同步。源表儀器的完全隔離、獨立通道確保了真正的SMU-per-pin測試。

吉時利的TSP和TSP-Link技術確保實現真正的SMU-per-pin測試，不存在基於主機系統的功率和/或通道限制。
此外，兩台2651A型採用TSP-Link並聯時，電流量程從50A擴展至100A。當兩個單元串聯時，電壓範圍從40V擴展至80V。內置智慧型特性使多個單元可作為單台儀器進行定址，簡化了測試，由此形成業內最佳的動態範圍(100A至1pA)。這種能力確保用戶可測試各種各樣的功率半導體和其他器件。

高達50A (2個單元可達100A)的精密測量確保更完善和準確的特性分析。
1μV測量解析度和高達50A (2個單元可達100A)的電流源輸出確保低電平Rds測量，支持新一代器件。

用途

該源表可作為：
l 半導體特性分析儀器
l 電壓或電流波形發生器
l 電壓或電流脈衝發生器
l 精密電源
l 真電流源
l 數字多用表(直流電壓，直流電流，電阻和功率，解析度達5½位)
l 精密電子負載

套用領域

輕鬆支持當今具有挑戰性的套用：
n 功率半導體、HBLED和光器件特性分析和測試
n GaN、SIC及其他複合材料和器件的特性分析
n 半導體結溫特性分析
n 高速、高精度數位化
n 電遷移研究
n 大電流、大功率器件測試

1. 每種測量模式下使用兩個A/D轉換器(一個用於電流，另一個用於電壓)，可同時運行用於準確源讀回，不會影響測試效率。
當用於一個系統時，全部2600A系列的通道以500ns同步，實現真正的SMU-per-pin測試，主機不存在功率或通道限制。
2. 將熱效應降至最小，準確特性分析半導體結溫效應
n 準確源出和測量短至100μs的脈衝，並且脈衝從100μs至直流、上升時間從25μs、占空比從1%至100%可程式。
n 捕獲快速變化現象，速率達1,000,000讀數/秒，連續1μs/點採樣。
3. 提高試驗可靠性和可重複性
精密定時和嚴格的通道同步對當今的測試要求至關重要。2651A型具有一款高性能觸髮型號，精確控制每一源測量步驟的定時。它還嚴格同步通道之間和/或其他2600A系列儀器之間的工作，採用TSP-Link，硬體速度<500ns。更重要的是，SMU-per-pin測試防止測量和負載信號失真。這些功能可幫助您提高吞吐量，降低可能損壞DUT的影響，並獲得高準確度和可復現的測量結果。
4. 快速、簡便地執行I-V測試
無需編程或安裝，TSP&reg; Express軟體工具即執行常見的I-V測試。嵌入式測試腳本處理器(TSP)使用戶能夠創建儀器可直接運行的腳本，進一步提高測試自動化。

該TSP Express測量螢幕所示為利用兩台2651A單元並聯獲得100A脈衝能力。能夠以圖形或表格格式查看結果，然後導出至.csv格式檔案，可用於電子表格軟體。

從基本測試到高級測試，利用TSP Express都能快速、簡便的配置。

2600A系列儀器的標準能力

每款2651A均具備其他2600A系列儀器提供的全部特性和能力，包括：
&#159; 既可作為台式I-V特性分析工具，又可作為多通道I-V測試系統的組成部分。
&#159; 無需編程或安裝，TSP Express軟體即可快速、簡便地執行常見的I-V測試。
&#159; ACS基本版軟體，用於半導體元器件特性分析(選件)。ACS基本版軟體現在具備一種Trace模式，用於產生一套特性曲線。
&#159; 吉時利的TSP(測試腳本處理器)軟體，能夠創建用戶自定義測試腳本，實現自動化程度更高的測試，並且支持創建編程式列，使儀器在沒有PC直接控制的情況下異步工作。
&#159; 多台2600A系列儀器連線在一個系統中，實現並行測試和精密定時。
&#159; 符合lxi class C標準。
&#159; 14位I/O線，與探針台、元件裝卸裝置或其他自動化工具直接互動。
&#159; USB連線埠，利用USB存儲裝置實現更大的數據和程式存儲空間。