簡介
本書包括了電子元器件可靠性試驗的各主要類別：環境試驗（包括13類環境和綜合環境試驗）；壽命試驗和加速壽命試驗；鑑定試驗；極限應力試驗；可靠性篩選試驗；可靠性增長試驗。
各試驗類別包括了原理、理論模型、試驗設計、實施程式、設備要求、關鍵技術及試驗示例等並介紹了相關的可靠性基礎知識和數理統計方法，提供了元器件失效分析和破壞性物理分析方法、程式及其關鍵性技術，使用狀態中元器件失效預測技術。
本書可作為高校教師、研究生、本科生及從事可靠性研究的工程技術人員工作的參考書。
目錄
第1章概論
1.1可靠性術語和參數
1.2電子元器件的可靠性表征
1.3可靠性試驗的目的和分類
1.4可靠性試驗技術的發展
參考文獻
第2章可靠性數學及套用
2.1壽命分布
2.2抽樣檢驗
2.3試驗數據的處理方法
參考文獻
第3章壽命試驗
3.1壽命與應力的關係
3.2指數分布壽命試驗
3.3加速壽命試驗
3.4壽命試驗中的一些技術問題
參考文獻
第4章環境試驗
4.1概述
4.2氣侯環境試驗
4.3機械環境試驗
4.4水浸漬試驗
4.5低氣壓試驗
4.6太陽輻射試驗
4.7電離輻射試驗
4.8鹽霧腐蝕試驗
4.9黴菌試驗
4.10沙塵試驗
4.11地震試驗
4.12聲震試驗
4.13運輸試驗
4.14天然環境試驗
4.15綜合環境試驗
參考文獻
第5章極限應力試驗
5.1極限應力試驗的概念
5.2進行極限應力試驗的目的和作用
5.3極限應力試驗的電參數測試
5.4極限應力試驗的程式
5.5極限應力試驗方法
5.6案例
參考文獻
第6章電子元器件鑑定試驗
……
第7章可靠性篩選試驗
第8章可靠性增長試驗
第9章元器件失效分析和失效機理
第10章破壞性物理分析（DPA）
第11章使用狀態中元器件失效預測技術
第12章試驗數據信息智慧型化管理系統（LIMS）
參考文獻
