阿貝誤差

指的是在測量過程中，因不符合阿貝原則而產生的誤差稱為阿貝誤差 測量儀器的軸線與待測工件的軸線須在同一直線上。 通常阿貝誤差產生的原因主要是鏡片的特徵造成測量儀器的軸線與待測工件的軸線無法完美對應成像有所偏差。

名詞解釋

英文翻譯：Abbe
指的是在測量過程中，因不符合阿貝原則而產生的誤差稱為阿貝誤差

產生原因

測量儀器的軸線與待測工件的軸線須在同一直線上。否則即產生誤差。
影像儀通過光學成像原理進行非接觸測量，阿貝數是鏡片設計的重要參數，也是檢驗中不可忽視的因素。阿貝數是表征色散的重要指標，它也稱為色散係數。通常阿貝誤差產生的原因主要是鏡片的特徵造成測量儀器的軸線與待測工件的軸線無法完美對應成像有所偏差。

舉例說明

當量儀設計或進行測量時,由於量儀的結構限制,往往使量儀的測量軸線不能與基淮軸線在同一條直線七,這樣就必然會因為不符合阿貝原理而產生理論誤差,這種誤差,我們通常稱之謂阿貝誤差,亦稱一次誤差。 以縱向比長儀為例,如圖1所示,由於基淮尺與被側尺並列,它們不在同一條直線上,即違背了 S丫比旱沙導執一J二S二心甲 、S·宙基準尺-孩目尺阿貝原則,這時由於顯微鏡座與導軌之間不可避免地會有間隙,另外導軌本身也存有不直度誤差,此時則將引起顯微鏡1與2之間的偏移,從而產生測量誤差△。 從圖1可知:△=S·tg甲式中:S—兩個顯微鏡座之間的中心距。 中—顯微鏡座與導軌之間的相對傾斜角。 由於甲角很小,則tg滬.甲(弧度)因此:△“S·甲 假如我們用此種比長儀測量一米刻線尺寸,如果兩個顯微鏡座之間的中心距S二150毫米,顯微鏡座與導軌間的相對傾斜角切=10’,=0.00。。.185 (弧度),則所引起的測量誤差: △二1 SOx]03 x 0.0000485=7拼一,一34一這樣大的測量誤差,在精密測量中是不能輕易略去的。

解決途徑

利用阿貝誤差的對稱性等性質，運用非接觸式、小位移、電容性的感測器(124、128、130、131、132)以決定歸由於一接近線性機械級(56、58)的俯仰(20)、偏航(22)、或滾轉(18)所引起的阿貝(Abbe)誤差，其未被諸如線性比例編碼器或雷射干涉計的一軸上位置指示器所指出。此系統以精密參考標準所校準，以使該校正僅取決於感測器讀數的小改變而與感測器讀數的絕對準確度無關。雖然本發明較佳為使用於具有慣性分離級(56、58)的分裂軸定位系統(50)，本發明亦可使用於典型的分裂軸或疊層級系統以降低其製造成本。