邏輯器件測試速度
邏輯器件測試速度是指測試儀每秒可向被測器件輸入端施加多少個測試向量(Test Vector),即TV/S,這是衡量測試儀性能的重要指標,速度越快越好,表明測試儀的檔次越高,HN2000/MX最高可達610KTV/S(國外測試儀Pinpoint達10MTV/S,QT200達500KTV/S。)。該指標應準確、穩定,不隨微機的檔次而變。該指標的主要作用是解決同一型號但不同類型邏輯器件採用同一測試速度有時不能測試成功的問題。
邏輯器件測試速度是指測試儀每秒可向被測器件輸入端施加多少個測試向量,即TV/S,這是衡量測試儀性能的重要指標。
邏輯器件測試速度是指測試儀每秒可向被測器件輸入端施加多少個測試向量(Test Vector),即TV/S,這是衡量測試儀性能的重要指標,速度越快越好,表明測試儀的檔次越高,HN2000/MX最高可達610KTV/S(國外測試儀Pinpoint達10MTV/S,QT200達500KTV/S。)。該指標應準確、穩定,不隨微機的檔次而變。該指標的主要作用是解決同一型號但不同類型邏輯器件採用同一測試速度有時不能測試成功的問題。
邏輯分析儀是分析數字系統邏輯關係的儀器。邏輯分析儀是屬於數據域測試儀器中的一種匯流排分析儀,即以匯流排(多線)概念為基礎,同時對多條數據線上的數據流進行觀察...
儀器定義 協定分析 主要特點 儀器分類 工作原理電晶體(transistor)是一種固體半導體器件,具有檢波、整流、放大、開關、穩壓、信號調製等多種功能。電晶體作為一種可變電流開關,能夠基於輸入電壓控...
定義 簡述 歷史 發展 里程碑邏輯器件可分為兩大類 – 固定邏輯器件和可程式邏輯器件。正如其命名一樣,固定邏輯器件中的電路是永久性的,它們完成一種或一組功能 —— 一旦製造完成,就無...
簡介 CPLD和FPGA PLD的優點 結論《數字邏輯》,吳繼娟著,由人民郵電出版社於2008年4月出版。數字邏輯是計算機相關專業本科生的一門重要的硬體基礎課程,理論性和實踐性都很強,尤其強調工程...
內容簡介 作者簡介 編輯推薦 本書序言《數字電路與數字邏輯》是2007年北京航空航天大學出版社出版的圖書,作者是張虹。
內容簡介 圖書目錄邏輯接口指能夠實現數據交換功能但物理上不存在,需要通過配置建立的接口,包括Dialer(撥號)接口、子接口、LoopBack接口、NULL接口、備份中心...
簡介 路由器邏輯接口 常用單端邏輯接口電平標準 常用差分邏輯接口電平標準該書介紹了什麼是FPGA、FPGA如何工作、如何對FPGA編程以及FPGA設計中遇到的各種概念、器件和工具等。本書用簡潔的語言向讀者展示了什麼是FPGA...
作者簡介 目錄大規模積體電路 (LSI)測試技術包括測試生成技術、回響鑑別技術、測試儀技術和易測設計技術等。LSI 電路的測試方法,首先是針對大規模集成存儲器和微處理...
概念 常用技術《SOC設計與測試》是由[美] 拉伊休曼Rochit Rajsuman編著,於敦山、 盛世敏、 田澤主譯的,2003年8月由北京航空航天大學出版社出版。...
作者簡介 圖書描述 內容簡介 創作背景 目錄