內容簡介
超大規模積體電路測試VLSI測試與可測性設計方法學已甄成熟，諸多理論和方法也為設計和製造界廣泛接受，亦成為EDA工具的基本特徵。本書系統化編撰迄今為止主流的方法學與結構，為讀者進行更深層次的電路設計、模擬、測試和分析打下良好的基礎，也為電路（包括電路級、晶片級和系統級）的設計、製造、測試和套用之間建立一個相互交流的平台。
本書主要內容包括電路測試基礎，驗證、模擬和仿真，自動測試生成，專用可測性設計，掃描設計，邊界掃描法，隨機測試和偽隨機測試，內建自測試，電流測試，存儲器測試，SOC測試。
本書既可作為高等院校高年級學生和研究生的專業課教材，也可作為從事積體電路設計、製造、測試、套用EDA和ATE專業人員的參考用書。
圖書目錄
第1章 概述
第2章 電路測試基礎
第3章 驗證、模擬和仿真
第4章 自動測試生成
第5章 專用可測性設計
第6章 掃描設計
第7章 邊界掃描法
第8章 隨機測試和偽隨機測試
第9章 內建自測試
第10章 電流測試
第11章 存儲器測試
第12章 SoC測試
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