行業背景
對於生產單位，收穫前玉米產量測定，是指定收穫計畫、合理安排勞動力、制定預分方案的依據。也是總結玉米生產經驗，分析各項措施效果的最佳鑑定。傳統的玉米考種實驗過程繁複，耗時耗力，托普儀器專業研製出自動考種分析及千粒重儀，TPKZ-1,自動分析解決傳統考種實驗費時耗力不精確的弊端，是新時期考種實驗者的最佳幫手。
傳統考種實驗測量參數
果穗長度、穗粗、禿頂度、穗行數、穗型、穗軸色、穗軸粗、單穗重、單穗粒數、出籽率、粒型、粒色、百粒重、籽粒產量
儀器用途
專業用於玉米籽粒、整穗、截面的精確考種及出苗數、整齊度、均勻度分析。
系統分析
玉米籽粒分析
可測粒數、粒長、粒寬。胚尖不明顯的籽粒不測定長寬，種子的長寬最後以有胚尖的種子長寬平均計算。能自動過濾掉胚尖不明顯的籽粒。
玉米籽粒分析玉米整穗分析
可以自動獲得穗長、穗粗、禿尖長（其位置可編輯調整）、左右穗、緣角、穗行角、平均粒高（厚），包括所測的每粒寬度、粒色（種子顏色的R、G、B值）等。每粒玉米的高度（厚）可以滑鼠滾輪來方便地調節修正。選配A3掃瞄器，可自動獲得5個果穗的平均分析值。
玉米整穗分析玉米截面分析
可以自動獲得籽粒行數、穗粗、軸粗，以及截面上的平均粒長、平均粒寬參數。其中，籽粒行數=果穗中部截面圖一圈的籽粒數量；穗粗=果穗外接圓的直徑；軸粗=軸線圓的直徑；粒長=（果穗外接圓的直徑-胚尖位置線圓直徑)/2；粒寬=(果穗外接圓周長+胚尖位置線圓周長)/2/籽粒排數。
玉米截面分析籽粒分析：粒數，粒長，粒寬，粒型，均勻度，平均粒長，平均粒寬，有胚尖粒數，面積，周長，直徑，長寬比例，圓度，千粒重等；
截面分析：籽粒行數，軸粗，粒長，粒寬。可一次性自動測量至少15個截面。
整穗分析：果穗長度，穗粗，禿尖長，穗型，左右穗緣角，穗行角，平均粒高（厚），每粒玉米的高度（厚）。穗行數、穗粒數、可自動獲得至少五個果穗平均分析值。
其他分析：千粒重，百粒重，籽粒產量。
